Некоторое содержание этого приложения в настоящий момент недоступно.
Если эта ситуация сохраняется, свяжитесь с нами по адресуОтзывы и контакты
1. (WO2019045943) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
Новейшие библиограф. данные, касающиеся досье в Международном бюро    Отправить комментарий

№ публикации: WO/2019/045943 № международной заявки: PCT/US2018/044794
Дата публикации: 07.03.2019 Дата международной подачи: 01.08.2018
МПК:
G11C 16/26 (2006.01) ,G11C 16/34 (2006.01) ,G06F 11/07 (2006.01)
G ФИЗИКА
11
Накопление информации
C
Запоминающие устройства статического типа
16
Программируемые постоянные запоминающие устройства со стираемой информацией
02
электрически программируемые
06
вспомогательные схемы, например, для записи в запоминающее устройство
26
схемы считывания или чтения; схемы вывода данных
G ФИЗИКА
11
Накопление информации
C
Запоминающие устройства статического типа
16
Программируемые постоянные запоминающие устройства со стираемой информацией
02
электрически программируемые
06
вспомогательные схемы, например, для записи в запоминающее устройство
34
для определения состояния программирования, например порогового напряжения, перегрузки или недогрузки программирования, сохранения
G ФИЗИКА
06
Обработка данных; вычисление; счет
F
Обработка цифровых данных с помощью электрических устройств
11
Обнаружение ошибок; исправление ошибок; контроль
07
Реагирование на наличие ошибки, например отказоустойчивость
Заявители:
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 So. Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
Изобретатели:
MUCHHERLA, Kishore Kumar; US
MALSHE, Ashutosh; US
SINGIDI, Harish Reddy; US
ALSASUA, Gianni Stephen; US
BESINGA, Gary F.; US
RATNAM, Sampath; US
FEELEY, Peter Sean; US
Агент:
PERDOK, Monique M.; US
ARORA, Suneel; US
BEEKMAN, Marvin L.; US
BLACK, David W.; US
SCHEER, Bradley W.; US
Дата приоритета:
15/692,40731.08.2017US
Название (EN) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
(FR) INTERVALLE DE BALAYAGE OPTIMISÉ
Реферат:
(EN) A variety of applications can include apparatus and/or methods of operating the apparatus that include a memory device having read levels that can be calibrated. A calibration controller implemented with the memory device can trigger a read level calibration based on inputs from one or more trackers monitoring parameters associated with the memory device and a determination of an occurrence of at least one event from a set of events related to the monitored parameters. The monitored parameters can include parameters related to a selected time interval and measurements of read, erase, or write operations of the memory device. Additional apparatus, systems, and methods are disclosed.
(FR) L'invention concerne diverses applications qui peuvent comprendre un appareil et/ou des procédés de fonctionnement de l'appareil qui comprennent un dispositif de mémoire présentant des niveaux de lecture qui peuvent être étalonnés. Un dispositif de commande d'étalonnage mis en oeuvre avec le dispositif de mémoire peut déclencher un étalonnage de niveau de lecture sur la base d'entrées provenant d'un ou plusieurs dispositifs de suivi surveillant des paramètres associés au dispositif de mémoire et une détermination d'une occurrence d'au moins un événement à partir d'un ensemble d'événements liés aux paramètres surveillés. Les paramètres surveillés peuvent comprendre des paramètres associés à un intervalle de temps sélectionné et des mesures d'opérations de lecture, d'effacement ou d'écriture du dispositif de mémoire. L'invention concerne en outre un appareil, des systèmes et des procédés supplémentaires.
front page image
Указанные государства: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Африканская региональная организация промышленной собственности (АРОПС) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Евразийская патентная организация (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Европейское патентное ведомство (ЕПВ) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Африканская организация интеллектуальной собственности (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Язык публикации: Английский (EN)
Язык подачи: Английский (EN)