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1. WO2022181196 - PUCE DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PUCE DE DÉTECTION, KIT DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE MESURE ET DISPOSITIF DE MESURE

Numéro de publication WO/2022/181196
Date de publication 01.09.2022
N° de la demande internationale PCT/JP2022/003209
Date du dépôt international 28.01.2022
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 16.08.2022
CIB
G01N 21/552 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55Réflexion spéculaire
552Réflexion totale atténuée
G01N 21/64 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
64Fluorescence; Phosphorescence
CPC
G01N 21/552
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
G01N 21/64
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
Déposants
  • 学校法人関西学院 KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 田和 圭子 TAWA, Keiko
Mandataires
  • 清水 敏 SHIMIZU, Satoshi
  • 松本 公雄 MATSUMOTO, Kimio
  • 酒本 裕明 SAKEMOTO, Hiroaki
  • 上代 哲司 JODAI, Tetsuji
  • 神野 直美 JINNO, Naoyoshi
Données relatives à la priorité
2021-02965226.02.2021JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) CHIP FOR SENSING, METHOD FOR MANUFACTURING CHIP FOR SENSING, KIT FOR SENSING, MEASUREMENT METHOD, AND MEASUREMENT DEVICE
(FR) PUCE DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PUCE DE DÉTECTION, KIT DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE MESURE ET DISPOSITIF DE MESURE
(JA) センシング用チップ、センシング用チップの製造方法、センシング用キット、測定方法及び測定装置
Abrégé
(EN) This chip for sensing comprises a substrate having a plasmon generating region with a periodic structure, and a plurality of capturing molecules for capturing a target substance. The plurality of capturing molecules are bound to the plasmon generating region at a higher density than to a region around the plasmon generating region. This allows for higher detection sensitivity in fluorescence observation than before.
(FR) La puce de détection de l'invention comprend un substrat comportant une région de génération de plasmons avec une structure périodique, et une pluralité de molécules de capture pour capturer une substance cible. La pluralité de molécules de capture est liée à la région de génération de plasmons à une densité plus élevée que dans une région autour de la région de génération de plasmons. La sensibilité de détection de l'observation par fluorescence est ainsi plus élevée qu'auparavant.
(JA) センシング用チップは、周期構造を有するプラズモン発生領域を有する基板と、標的物質を捕捉するための複数の捕捉分子とを含み、複数の捕捉分子は、プラズモン発生領域に、プラズモン発生領域の周囲の領域よりも高い密度で結合している。これにより、蛍光観察における検出感度を従来よりも向上できる。
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