(EN) A defect detection method and apparatus, an electronic device, and a storage medium. The method comprises: acquiring a first feature map of a template image, and a second feature map of an image to be subjected to detection (S101); for each first feature point in the first feature map, determining, from a plurality of first feature points in the first feature map, a plurality of associated feature points, the distance between which and the first feature point satisfies a pre-set condition (S102); for each first feature point, on the basis of the similarity between each determined associated feature point of the first feature point and a target second feature point in the second feature map, performing feature enhancement processing on the first feature point, wherein the target second feature point is a second feature point, the position of which matches the first feature point, in the second feature map (S103); and on the basis of the second feature map, and the first feature map which has been subjected to feature enhancement processing, determining a defect detection result corresponding to said image (S104).
(FR) La présente invention concerne un procédé et un appareil de détection de défauts, un dispositif électronique et un support d'enregistrement. Le procédé consiste à : acquérir une première carte de caractéristiques d'une image de modèle, et une seconde carte de caractéristiques d'une image à soumettre à une détection (S101) ; pour chaque premier point caractéristique dans la première carte de caractéristiques, déterminer, à partir d'une pluralité de premiers points caractéristiques dans la première carte de caractéristiques, une pluralité de points caractéristiques associés, la distance entre ceux-ci et le premier point caractéristique satisfaisant à une condition prédéfinie (S102) ; pour chaque premier point caractéristique, sur la base de la similarité entre chaque point caractéristique associé déterminé du premier point caractéristique et un second point caractéristique cible dans la seconde carte de caractéristiques, effectuer un traitement d'amélioration de caractéristiques sur le premier point caractéristique, le second point caractéristique cible étant un second point caractéristique, dont la position correspond au premier point caractéristique, dans la seconde carte de caractéristiques (S103) ; et sur la base de la seconde carte de caractéristiques, et de la première carte de caractéristiques qui a été soumise à un traitement d'amélioration de caractéristiques, déterminer un résultat de détection de défauts correspondant à ladite image (S104).
(ZH) 一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像的第一特征图、以及待检测图像的第二特征图（S101）；针对所述第一特征图中的每个第一特征点，从所述第一特征图中的多个第一特征点中，确定与该第一特征点之间的距离满足预设条件的多个关联特征点（S102）；针对每个所述第一特征点，基于确定的该第一特征点的每个关联特征点与所述第二特征图中的目标第二特征点之间的相似度，对该第一特征点进行特征增强处理；其中，所述目标第二特征点为所述第二特征图中位置与该第一特征点匹配的第二特征点（S103）；基于所述第二特征图、以及特征增强处理后的所述第一特征图，确定所述待检测图像对应的缺陷检测结果（S104）。
