Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2022075621 - DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE, ET PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT DE DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE

Numéro de publication WO/2022/075621
Date de publication 14.04.2022
N° de la demande internationale PCT/KR2021/012566
Date du dépôt international 15.09.2021
CIB
G06F 11/07 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
G06F 11/30 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
30Surveillance du fonctionnement
G06F 11/22 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
G06F 11/32 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
30Surveillance du fonctionnement
32avec indication visuelle du fonctionnement de la machine
CPC
G06F 11/07
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
G06F 11/22
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
G06F 11/30
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
30Monitoring
G06F 11/32
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
30Monitoring
32with visual ; or acoustical; indication of the functioning of the machine
Déposants
  • 삼성전자 주식회사 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR]/[KR]
Inventeurs
  • 권세홍 KWON, Sehong
  • 김요한 KIM, Yohan
  • 오동호 OH, Dongho
  • 이지성 LEE, Jiseong
  • 조정훈 CHO, Junghoon
  • 최동민 CHOI, Dongmin
Mandataires
  • 특허법인 태평양 BAE, KIM & LEE IP
Données relatives à la priorité
10-2020-012872006.10.2020KR
Langue de publication Coréen (ko)
Langue de dépôt coréen (KO)
États désignés
Titre
(EN) ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE OPERATION METHOD
(FR) DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE, ET PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT DE DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(KO) 전자 장치 및 전자 장치의 동작 방법
Abrégé
(EN) An electronic device according to one embodiment disclosed in the present document may comprise a memory and a processor operatively connected to the memory. According to one embodiment, the memory can comprise instructions that allow, when executed, the processor to: receive state data from an external electronic device in which an error has occurred; analyze the received state data by using at least some of a plurality of filters, each corresponding to a different type of error; recognize, on the basis of the analyzed state data, causes of the error having occurred in the external electronic device; and provide a solution corresponding to the error to a user of the electronic device. Other various embodiments identified through the specification are possible.
(FR) Selon un mode de réalisation, le présent document divulgue un dispositif électronique qui peut comprendre une mémoire et un processeur connecté de manière fonctionnelle à la mémoire. Selon un mode de réalisation, la mémoire peut comprendre des instructions qui permettent, lorsqu'elles sont exécutées : à recevoir des données d'état provenant d'un dispositif électronique externe dans lequel une erreur s'est produite ; à analyser les données d'état reçues à l'aide d'au moins une partie d'une pluralité de filtres, chacun correspondant à un type différent d'erreur ; à reconnaître, sur la base des données d'état analysées, les causes de l'erreur s'étant produite dans le dispositif électronique externe ; et à fournir une solution correspondant à l'erreur à un utilisateur du dispositif électronique. Divers autres modes de réalisation identifiés dans la description sont également possibles.
(KO) 본 문서에 개시되는 일 실시예에 따른 전자 장치는, 메모리 및 상기 메모리와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 메모리는, 실행 시, 상기 프로세서가, 오류가 발생한 외부 전자 장치로부터 상태 데이터를 수신하고, 상이한 오류의 타입에 각각 대응하는 복수의 필터들 중 적어도 일부를 이용하여, 상기 수신한 상태 데이터를 분석하고, 상기 분석된 상태 데이터에 기반하여, 상기 외부 전자 장치에서 발생한 상기 오류의 원인을 인식하고, 상기 오류에 대응하는 해결 방안을 상기 전자 장치의 사용자에게 제공하도록 하는 인스트럭션들을 포함할 수 있다. 이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시예가 가능하다.
Documents de brevet associés
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international