(EN) According to the present invention, a light-receiving unit (3) has an optically phased array which is configured so as to achieve scanning with a light beam by individually controlling the phase of a plurality of split beams using a phase amount for scanning. A reference light irradiation unit (6) is configured so as to generate reference light and irradiate the light-receiving unit with the reference light. A light-receiving-side correction unit (7) is configured so as to: estimate, from a detection result at the light-receiving unit to which the reference light is incident, a phase shift amount caused by warping of a substrate to which the light-receiving unit is mounted and occurring in the plurality of split beams; and set a phase adjustment amount to be imparted on the plurality of split beams so as to reduce the estimated phase shift amount.
(FR) Selon la présente invention, une unité de réception de lumière (3) comporte un réseau à commande de phase optique qui est configuré de façon à réaliser un balayage avec un faisceau de lumière par commande individuelle de la phase d'une pluralité de faisceaux divisés à l'aide d'une quantité de phase pour le balayage. Une unité d'irradiation de lumière de référence (6) est configurée de façon à générer une lumière de référence et à irradier l'unité de réception de lumière avec la lumière de référence. Une unité de correction côté réception de lumière (7) est configurée de façon à: estimer, à partir d'un résultat de détection au niveau de l'unité de réception de lumière sur laquelle la lumière de référence est incidente, une quantité de déphasage provoquée par le gauchissement d'un substrat sur lequel l'unité de réception de lumière est montée et se produisant dans la pluralité de faisceaux divisés ; et régler une quantité de réglage de phase à appliquer à la pluralité de faisceaux divisés de façon à réduire la quantité de déphasage estimée.
(JA) 受光部（３）は、複数の分岐光の位相を、走査用位相量を用いて個別に制御することによって、光ビームによる走査を実現するように構成された光フェーズドアレイを有する。基準光照射部（６）は、基準光を発生させて受光部に照射するように構成される。受光側補正部（７）は、基準光が入射された受光部での検出結果から、受光部を実装する基板の歪みによって、複数の分岐光に生じる位相ずれ量を推定し、推定される位相ずれ量が小さくなるように複数の分岐光に付与する位相調整量を設定するように構成される。
