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1. WO2021040409 - PROCÉDÉ D'INSPECTION OPTIQUE ET APPAREIL CORRESPONDANT

Numéro de publication WO/2021/040409
Date de publication 04.03.2021
N° de la demande internationale PCT/KR2020/011416
Date du dépôt international 26.08.2020
CIB
G01N 21/88 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G06N 20/00 2019.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
NSYSTÈMES DE CALCULATEURS BASÉS SUR DES MODÈLES DE CALCUL SPÉCIFIQUES
20Apprentissage automatique
G06N 3/08 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
NSYSTÈMES DE CALCULATEURS BASÉS SUR DES MODÈLES DE CALCUL SPÉCIFIQUES
3Systèmes de calculateurs basés sur des modèles biologiques
02utilisant des modèles de réseaux neuronaux
08Méthodes d'apprentissage
CPC
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G06N 20/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
20Machine learning
G06N 3/08
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
3Computer systems based on biological models
02using neural network models
08Learning methods
Déposants
  • 삼성전자 주식회사 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR]/[KR]
Inventeurs
  • 포포브미카일 브이야체슬라보비치 POPOV, Mikhail Vyacheslavovich
  • 스티코브스타니슬라브 알렉산드로비치 SHTYKOV, Stanislav Aleksandrovich
  • 말리셰브일리아 발러레비치 MALYSHEV, Ilia Valer'evich
  • 버막류드밀라 이고레브나 BURMAK, Liudmila Igorevna
  • 필리모노브파벨 아나톨예비치 FILIMONOV, Pavel Anatolyevich
  • 투르코세르게이 알렉산드로비치 TURKO, Sergey Alexandrovich
  • 아스피도브알렉산더 알렉세예비치 ASPIDOV, Alexander Alekseyevich
Mandataires
  • 리앤목 특허법인 Y.P.LEE, MOCK & PARTNERS
Données relatives à la priorité
10-2020-009639531.07.2020KR
201912693627.08.2019RU
Langue de publication coréen (KO)
Langue de dépôt coréen (KO)
États désignés
Titre
(EN) OPTICAL INSPECTION METHOD AND APPARATUS USING SAME
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION OPTIQUE ET APPAREIL CORRESPONDANT
(KO) 광학 검사 방법 및 이를 이용한 장치
Abrégé
(EN)
An optical inspection apparatus and an inspection method are disclosed. The disclosed inspection method is a method of optically inspecting a surface of a product, and comprises the steps of: sequentially illuminating at least one surface of the product by means of at least two light sources; blocking at least one of direct light and reflected light of light illuminated by means of the at least two light sources from entering at least one camera by means of at least one from among at least one aperture and a light absorbing box ; and capturing a set of images of the at least one surface by means of the at least one camera.
(FR)
L'invention concerne un appareil d'inspection optique et un procédé d'inspection. Le procédé d'inspection de l'invention constitue un procédé d'inspection optique d'une surface d'un produit et consiste : à éclairer séquentiellement au moins une surface du produit au moyen d'au moins deux sources de lumière ; à empêcher la lumière directe et/ou la lumière réfléchie de la lumière éclairée au moyen desdites sources de lumière d'entrer dans au moins un appareil de prise de vues au moyen d'une ouverture et/ou d'une boîte d'absorption de lumière ; et à capturer un ensemble d'images de ladite surface au moyen dudit appareil de prise de vues.
(KO)
광학 검사 장치 및 검사 방법이 개시된다. 개시된 검사 방법은, 제품의 표면을 광학적으로 검사하는 방법으로서, 적어도 2 개의 광원에 의해 상기 제품의 적어도 하나의 표면을 순차적으로 조명하는 단계, 적어도 하나의 개구 및 광 흡수 박스 중 적어도 하나에 의해 상기 적어도 2 개의 광원에 의해 조명된 광의 반사광과 직사광 중 적어도 하나가 적어도 하나의 카메라에 입사하는 것을 차단하는 단계, 상기 적어도 하나의 카메라에 의해 적어도 하나의 표면의 이미지 세트를 캡처하는 단계를 포함한다.
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