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1. WO2021038685 - DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE SURFACE, SYSTÈME, PROCÉDÉ, ET SUPPORT NON TRANSITOIRE LISIBLE PAR ORDINATEUR

Numéro de publication WO/2021/038685
Date de publication 04.03.2021
N° de la demande internationale PCT/JP2019/033294
Date du dépôt international 26.08.2019
CIB
G01N 21/88 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G01S 17/89 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
SDÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
17Systèmes utilisant la réflexion ou la reradiation d'ondes électromagnétiques autres que les ondes radio, p.ex. systèmes lidar
88Systèmes lidar, spécialement adaptés pour des applications spécifiques
89pour la cartographie ou l'imagerie
G06T 7/10 2017.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
10Découpage; Détection de bords
CPC
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G01S 17/89
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
17Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
88Lidar systems specially adapted for specific applications
89for mapping or imaging
G06T 7/10
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
10Segmentation; Edge detection
Déposants
  • 日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 小野 善将 ONO Yoshimasa
  • 辻 聡 TSUJI Akira
  • 安部 淳一 ABE Junichi
Mandataires
  • 家入 健 IEIRI Takeshi
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SURFACE ABNORMALITY DETECTION DEVICE, SYSTEM, METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANOMALIE DE SURFACE, SYSTÈME, PROCÉDÉ, ET SUPPORT NON TRANSITOIRE LISIBLE PAR ORDINATEUR
(JA) 表面異常検知装置、システム、方法、及び非一時的なコンピュータ可読媒体
Abrégé
(EN)
The purpose of this disclosure is to provide a surface abnormality detection device, system, method, and non-transitory computer-readable medium that make it possible to identify an abnormal location on the surface of a complicated structure. A surface abnormality detection device (11) according to this disclosure comprises: a division means (111) for dividing a structure into a plurality of clusters on the basis of position information for a plurality of points on the surface of the structure; a joining means (112) for creating a cluster group by joining two or more of the clusters; a determination means (113) for determining a normal reflection brightness value for the cluster group on the basis of a distribution of reflection brightness values at a plurality of points on the surface of the cluster group; and an identification means (114) for identifying an abnormal location on the surface of the cluster group on the basis of the differences between the normal reflection brightness value and the reflection brightness values of each of the plurality of points on the surface of the cluster group.
(FR)
L'objet de la présente invention est de fournir un dispositif de détection d'anomalie de surface, système, procédé et support non transitoire lisible par ordinateur qui permettent d'identifier un emplacement anormal sur la surface d'une structure compliquée. L'invention concerne un dispositif (11) de détection d'anomalie de surface qui comprend : un moyen de division (111) pour diviser une structure en une pluralité de grappes sur la base d'informations de position pour une pluralité de points sur la surface de la structure ; un moyen d'assemblage (112) pour créer un groupe de grappes par assemblage de deux grappes ou plus ; un moyen de détermination (113) pour déterminer une valeur normale de luminosité de réflexion d'un groupe de grappes sur la base de la distribution de valeurs de luminosité de réflexion en une pluralité de points sur la surface du groupe de grappes ; et un moyen d'identification (114) pour identifier un emplacement anormal sur la surface du groupe de grappes sur la base des différences entre la valeur normale de luminosité de réflexion et les valeurs de luminosité de réflexion de chacun de la pluralité de points sur la surface du groupe de grappes.
(JA)
本開示は、複雑な構造物の表面の異常箇所を特定することが可能な表面異常検知装置、システム、方法、及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することを目的とする。本開示に係る表面異常検知装置(11)は、構造物の表面の複数の点の位置情報に基づいて構造物を複数のクラスタに分類する分類手段(111)と、クラスタのうち2つ以上を結合してクラスタグループを作成する結合手段(112)と、クラスタグループの表面の複数の点における反射輝度値の分布に基づいてクラスタグループの反射輝度正常値を決定する決定手段(113)と、反射輝度正常値とクラスタグループの表面の複数の点のそれぞれの反射輝度値との差に基づいてクラスタグループの表面の異常箇所を特定する特定手段(114)と、を備える。
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