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1. WO2020245257 - PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN ÉCHANTILLON, METTANT EN OEUVRE UN SUPPORT RÉSONANT, ILLUMINÉ PAR UN RAYONNEMENT INFRA-ROUGE

Numéro de publication WO/2020/245257
Date de publication 10.12.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2020/065460
Date du dépôt international 04.06.2020
CIB
G01N 21/3504 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
3504pour l'analyse des gaz, p.ex. analyse de mélanges de gaz
G01N 21/3581 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
3581en utilisant la lumière de l'infrarouge lointain; en utilisant un rayonnement térahertz
G01N 21/359 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
359en utilisant la lumière de l'infrarouge proche
G01N 21/41 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
G01N 21/3577 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
3577pour l'analyse de liquides, p.ex. l'eau polluée
G01N 21/59 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
59Transmissivité
CPC
G01N 2021/3137
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
3129Determining multicomponents by multiwavelength light
3137with selection of wavelengths after the sample
G01N 2021/3196
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
3196Correlating located peaks in spectrum with reference data, e.g. fingerprint data
G01N 2021/4126
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
4126Index of thin films
G01N 2021/438
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
43by measuring critical angle
436Sensing resonant reflection
438with investigation of wavelength
G01N 2021/5957
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
59Transmissivity
5907Densitometers
5957using an image detector type detector, e.g. CCD
G01N 21/253
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
251Colorimeters; Construction thereof
253for batch operation, i.e. multisample apparatus
Déposants
  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR]/[FR]
  • CPE LYON FORMATION CONTINUE ET RECHERCHE [FR]/[FR]
  • ECOLE CENTRALE DE LYON [FR]/[FR]
  • INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE LYON [FR]/[FR]
  • UNIVERSITE CLAUDE BERNARD LYON 1 [FR]/[FR]
  • COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES [FR]/[FR]
Inventeurs
  • DUPOY, Mathieu
  • FOURNIER, Maryse
  • BENYATTOU, Taha
  • JAMOIS, Cécile
  • BERGUIGA, Lotfi
  • GAIGNEBET, Nicolas
  • GEHIN, Thomas
Mandataires
  • LE GOALLER, Christophe
Données relatives à la priorité
190613407.06.2019FR
Langue de publication Français (fr)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND DEVICE FOR ANALYSING A SAMPLE USING A RESONANT SUPPORT, ILLUMINATED BY INFRARED RADIATION
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN ÉCHANTILLON, METTANT EN OEUVRE UN SUPPORT RÉSONANT, ILLUMINÉ PAR UN RAYONNEMENT INFRA-ROUGE
Abrégé
(EN) The invention relates to a method for analysing a sample (20), the sample being capable of comprising an analyte, the sample extending on a resonant support (15), the resonant support having a surface on which a plurality of photonic crystals extend (16k, 16k+1), separated from one another, such that the sample extends between a light source (10) and the photonic crystals, the photonic crystals being such that: - a resonance wavelength (λk) is associated with each photonic crystal (16k) addressing the analyte, wherein the wavelengths of the photonic crystals define a resonance spectral band (Δλr), extending between 2 µm and 20 µm; - the transmission or the reflection of light by each photonic crystal addressing the analyte is maximum at the associated resonance wavelength; the method comprises the following steps: a) illuminating the support by the light source, the light source emitting an illumination lightwave (11), defining an illumination spectral band (Δλ) which at least partially covers the resonance spectral band (Δλr), such that a plurality of photonic crystals are simultaneously illuminated; b) acquiring an image (I) of the resonant support, then determining the presence of the analyte in the sample from the image.
(FR) Procédé d'analyse d'un échantillon (20), l'échantillon étant susceptible de comporter un analyte, l'échantillon s'étendant sur un support résonant (15), le support résonant comportant une surface sur laquelle s'étendent plusieurs cristaux photoniques (16k, 16k+1), séparés les uns des autres, de telle sorte que l'échantillon s'étend entre une source de lumière (10) et les cristaux photoniques, les cristaux photoniques étant tels que: - une longueur d'onde de résonance (λk) est associée à chaque cristal photonique (16k) adressant l'analyte, les longueurs d'onde des cristaux photoniques définissant une bande spectrale de résonance (Δλr), s'étendant entre 2 µm et 20 µm; - la transmission ou la réflexion de la lumière, par chaque cristal photonique adressant l'analyte, est maximale à la longueur d'onde de résonance qui lui est associée; le procédé comportant les étapes suivantes: a) illumination du support par la source de lumière, la source de lumière émettant une onde lumineuse d'illumination (11), définissant une bande spectrale d'illumination (Δλ) recouvrant au moins en partie la bande spectrale de résonance (Δλr), de telle sorte que plusieurs cristaux photoniques sont simultanément illuminés; b) acquisition d'une image (I) du support résonant, puis détermination de la présence de l'analyte dans l'échantillon à partir de l'image.
Documents de brevet associés
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