(EN) The present invention relates to ion detectors of the type used in scientific instrumentation, such as mass spectrometers. More particularly, the present invention provides a self-contained particle detector comprising an enclosure formed in part by a transmission mode secondary electron emissive element, the enclosure defining an internal environment and an external environment, wherein the transmission mode secondary electron emissive element has an externally facing surface and an internally facing surface and is configured such that impact of a particle on the externally facing surface causes emission of one or more secondary electrons from the internally facing surface.
(FR) La présente invention concerne des détecteurs d'ions du type utilisé dans des instruments scientifiques, tels que des spectromètres de masse. Plus particulièrement, la présente invention concerne un détecteur de particules autonome comprenant une enceinte formée en partie par un élément émetteur d'électrons secondaires en mode transmission, l'enceinte délimitant un environnement interne et un environnement externe, l'élément émetteur d'électrons secondaires en mode transmission présentant une surface tournée vers l'extérieur et une surface tournée vers l'intérieur et étant conçu de telle sorte que l'impact d'une particule sur la surface tournée vers l'extérieur provoque l'émission d'un ou plusieurs électrons secondaires depuis la surface tournée vers l'intérieur.
