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1. WO2020243268 - MODULATEUR DE PHASE À ADRESSAGE OPTIQUE POUR FAISCEAUX D'ÉLECTRONS

Numéro de publication WO/2020/243268
Date de publication 03.12.2020
N° de la demande internationale PCT/US2020/034875
Date du dépôt international 28.05.2020
CIB
H01J 37/295 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
26Microscopes électroniques ou ioniques; Tubes à diffraction d'électrons ou d'ions
295Tubes à diffraction électronique ou ionique
Déposants
  • THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIOR UNIVERSITY [US]/[US]
Inventeurs
  • KOPPELL, Stewart, A.
  • BOWMAN, Adam
  • KASEVICH, Mark, A.
Mandataires
  • JACOBS, Ron
  • LODENKAMPER, Robert
  • MCFARLANE, Thomas, J.
Données relatives à la priorité
62/853,46228.05.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) OPTICALLY-ADDRESSED PHASE MODULATOR FOR ELECTRON BEAMS
(FR) MODULATEUR DE PHASE À ADRESSAGE OPTIQUE POUR FAISCEAUX D'ÉLECTRONS
Abrégé
(EN)
An electron beam phase plate is provided where patterned radiation is provided to the phase plate to creates a corresponding electrical pattern, This electrical pattern provides a corresponding patterned modulation of the electron beam. Such modulation can be done in transmission or in reflection. This approach has numerous applications in electron microscopy, such as providing phase and/or amplitude shaping, aberration correction and providing phase contrast.
(FR)
Une plaque de phase de faisceau d'électrons est prévue dans laquelle un rayonnement à motifs est fourni à la plaque de phase pour créer un motif électrique correspondant, ce motif électrique fournissant une modulation à motifs correspondante du faisceau d'électrons. Une telle modulation peut être réalisée en transmission ou en réflexion. Cette approche présente de nombreuses applications en microscopie électronique, telles que la mise en forme de phase et/ou d'amplitude, la correction d'aberration et la fourniture d'un contraste de phase.
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