Traitement en cours

Veuillez attendre...

PATENTSCOPE sera indisponible durant quelques heures pour des raisons de maintenance le samedi 31.10.2020 à 7:00 AM CET
Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2020196302 - SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUTS PAR COURANTS DE FOUCAULT

Numéro de publication WO/2020/196302
Date de publication 01.10.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2020/012392
Date du dépôt international 19.03.2020
CIB
G01N 27/90 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
72en recherchant des variables magnétiques
82pour rechercher la présence des criques
90en utilisant les courants de Foucault
Déposants
  • 株式会社IHI IHI CORPORATION [JP]/[JP]
  • 株式会社IHI検査計測 IHI INSPECTION & INSTRUMENTATION CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 稲垣 宏一 INAGAKI Koichi
  • 石田 修一 ISHIDA Syuichi
Mandataires
  • 西澤 和純 NISHIZAWA Kazuyoshi
  • 寺本 光生 TERAMOTO Mitsuo
  • 清水 雄一郎 SHIMIZU Yuichiro
  • 高橋 久典 TAKAHASHI Hisanori
Données relatives à la priorité
2019-05543522.03.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) EDDY-CURRENT FLAW DETECTION SYSTEM AND EDDY-CURRENT FLAW DETECTION METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUTS PAR COURANTS DE FOUCAULT
(JA) 渦流探傷システムおよび渦流探傷方法
Abrégé
(EN)
This eddy-current flaw detection system comprises: an eddy-current flaw detection probe (A) comprising a detection coil (8b) for detecting an eddy current in an object (W) under measurement; a numerically controlled movement mechanism (1) that moves the eddy-current flaw detection probe (A) and is controlled through numerical control; and a control device (5) for controlling the eddy-current flaw detection probe (A) and the numerically controlled movement mechanism (1). There is a position adjustment step (S3) in which the control device (5) acquires the shape of the object (W) under measurement and adjusts the position of the eddy-current flaw detection probe (A) by inputting numbers into the numerically controlled movement mechanism (1) on the basis of the shape of the object under measurement.
(FR)
La présente invention concerne un système de détection de défauts par courants de Foucault qui comprend : une sonde de détection de défauts par courants de Foucault (A) comprenant une bobine de détection (8b) pour détecter un courant de Foucault dans un objet (W) en cours de mesure ; un mécanisme de déplacement à commande numérique (1) qui déplace la sonde de détection de défauts par courants de Foucault (A) et qui est commandé par une commande numérique ; et un dispositif de commande (5) pour commander la sonde de détection de défauts par courants de Foucault (A) et le mécanisme de déplacement à commande numérique (1). Une étape de réglage de position (S3) est prévue, dans laquelle le dispositif de commande (5) acquiert la forme de l'objet (W) en cours de mesure et règle la position de la sonde de détection de défauts par courants de Foucault (A) par l'entrée de nombres dans le mécanisme de déplacement à commande numérique (1) sur la base de la forme de l'objet en cours de mesure.
(JA)
被測定物(W)の渦電流を検出する検出コイル(8b)を備える渦流探傷プローブ(A)と、前記渦流探傷プローブ(A)を移動させると共に、数値制御により制御される数値制御移動機構(1)と、前記渦流探傷プローブ(A)及び前記数値制御移動機構(1)を制御する制御装置(5)とを備え、前記制御装置(5)は、前記被測定物(W)の形状を取得すると共に、前記被測定物の前記形状に基づいて前記数値制御移動機構(1)に数値を入力することにより、前記渦流探傷プローブ(A)の位置を調整する位置調整工程(S3)を有する渦流探傷システム。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international