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1. WO2020164667 - DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE ET ENSEMBLE À MULTIPLES MIROIRS

Numéro de publication WO/2020/164667
Date de publication 20.08.2020
N° de la demande internationale PCT/DE2020/100094
Date du dépôt international 12.02.2020
CIB
G02B 17/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
17Systèmes avec surfaces réfléchissantes, avec ou sans éléments de réfraction
G02B 26/08 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation
08pour commander la direction de la lumière
G02B 27/50 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
50Systèmes optiques pour la visualisation d'objets de phase
G02B 27/01 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
01Dispositifs d'affichage "tête haute"
G02B 17/06 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
17Systèmes avec surfaces réfléchissantes, avec ou sans éléments de réfraction
02Systèmes catoptriques, p.ex. systèmes redressant et renversant une image
06utilisant uniquement des miroirs
G01B 11/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
CPC
G01B 11/2441
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
2441using interferometry
G01B 2290/35
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
2290Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
35Mechanical variable delay line
G01B 9/02019
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
9Instruments as specified in the subgroups and characterised by the use of optical measuring means
02Interferometers ; for determining dimensional properties of, or relations between, measurement objects
02015characterised by a particular beam path configuration
02017contacting one object several times
02019contacting different points on same face of object
G02B 17/004
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
17Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
004Systems comprising a plurality of reflections between two or more surfaces, e.g. cells, resonators
G02B 27/148
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
10Beam splitting or combining systems
14operating by reflection only
148including stacked surfaces having at least one double-pass partially reflecting surface
G02B 27/283
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
28for polarising
283used for beam splitting or combining
Déposants
  • HOCHSCHULE TRIER [DE]/[DE]
Inventeurs
  • SCHUTH, Michael
  • PETRY, Christopher
Mandataires
  • MÜLLER, Jochen
Données relatives à la priorité
10 2019 103 814.614.02.2019DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VORRICHTUNG ZUM OPTISCHEN MESSEN UND MEHRFACHSPIEGEL
(EN) OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND MULTIPLE MIRROR
(FR) DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE ET ENSEMBLE À MULTIPLES MIROIRS
Abrégé
(DE)
Ein Mehrfachspiegel (10) zur Vervielfachung einer einfachen eingehenden Wellenfront (12) elektromagnetischer Strahlung (11) zu mehreren ausgehenden Wellenfronten (14) umfasst wenigstens einen ersten Spiegel (16), auf den die eingehende Wellenfront (12) als erstes eintrifft, und einen zweiten Spiegel (18), an dem die Wellenfront als letztes gespiegelt wird, wobei sich die Siegelebenen in Bewegungsrichtung der ersten Wellenfront (12) überlagern. Der erste Spiegel (16) ist für die elektromagnetische Strahlung (11) teildurchlässig und der zweite Spiegel (18) ist volIreflektierend.
(EN)
The invention relates to a multiple mirror (10) for multiplying a single incident wavefront (12) of electromagnetic radiation (11) into a plurality of outgoing wavefronts (14), comprising at least one first mirror (16), onto which the incident wavefront (12) first falls, and a second mirror (18), on which the wavefront is last reflected, wherein the mirror planes are superimposed in the direction of movement of the first wavefront (12). The first mirror (16) is partially transparent to the electromagnetic radiation (11) and the second mirror (18) is fully reflective.
(FR)
L'invention concerne un ensemble à multiples miroirs (10) pour la duplication d'un front d'onde (12) entrant unique d'un rayonnement électromagnétique (11) en plusieurs fronts d'onde sortants (14) comportant un premier miroir (16), sur lequel le front d'onde (12) entrant est incident en premier, et un second miroir (18) au niveau duquel le front d'onde est réfléchi en dernier, les plans des miroirs étant superposés dans la direction de déplacement du premier front d'onde (12). Le premier miroir (16) est en partie transparent au rayonnement électromagnétique (11) et le second miroir (18) est entièrement réfléchissant.
Également publié en tant que
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