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1. WO2020162618 - DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION

Numéro de publication WO/2020/162618
Date de publication 13.08.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2020/004924
Date du dépôt international 07.02.2020
CIB
G01N 29/04 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
04Analyse de solides
G01N 29/48 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
44Traitement du signal de réponse détecté
48par comparaison d'amplitude
CPC
G01N 29/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
04Analysing solids
G01N 29/48
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
44Processing the detected response signal ; , e.g. electronic circuits specially adapted therefor
48by amplitude comparison
Déposants
  • ヤマハファインテック株式会社 YAMAHA FINE TECHNOLOGIES CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 奈良 晃寛 NARA Akihiro
  • 寺岡 誠人 TERAOKA Makoto
  • 片山 広樹 KATAYAMA Hiroki
  • 笹岑 敬一郎 SASAMINE Keiichiro
Mandataires
  • 西澤 和純 NISHIZAWA Kazuyoshi
  • 勝俣 智夫 KATSUMATA Tomoo
  • 伊藤 英輔 ITO Eisuke
  • 柏野 由布子 KASHINO Yuko
Données relatives à la priorité
2019-02208008.02.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION
(JA) 検査装置、および検査方法
Abrégé
(EN)
This inspection device has: a transmission unit that irradiates a plurality of different positions of a first standard object with ultrasonic waves; a reception unit that receives a plurality of first ultrasonic waves emitted by the transmission unit and transmitted through the positions; a calculation unit that calculates a plurality of threshold values corresponding to the positions on the basis of reception intensities of the first ultrasonic waves; and a storage unit that stores the threshold values and values indicating the positions in such a manner as to be associated with each other.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'inspection comprenant : une unité de transmission qui irradie une pluralité de positions différentes d'un premier objet standard avec des ondes ultrasonores; une unité de réception qui reçoit une pluralité de premières ondes ultrasonores émises par l'unité de transmission et transmises à travers les positions; une unité de calcul qui calcule une pluralité de valeurs de seuil correspondant aux positions en fonction des intensités de réception des premières ondes ultrasonores; et une unité de mémoire qui mémorise les valeurs de seuil et les valeurs indiquant les positions de manière à les associer les unes aux autres.
(JA)
検査装置は、超音波を、第1の標準対象物の互いに異なる複数の位置に照射する送信部と、前記送信部によって照射されるとともに前記複数の位置をそれぞれ透過した第1の複数の超音波を受信する受信部と、前記第1の複数の超音波それぞれの受信強度に基づいて、前記複数の位置それぞれに対応する複数のしきい値を求める演算部と、互いに対応付けられた状態で前記複数のしきい値と前記複数の位置を表す値とを記憶する記憶部と、を有する。
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