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1. WO2020160691 - TEST DE MARGE SÉLECTIF PERMETTANT DE DÉTERMINER S'IL CONVIENT D'APPRENDRE DES SIGNAUX POUR UN SYSTÈME DE MÉMOIRE

Numéro de publication WO/2020/160691
Date de publication 13.08.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2019/074738
Date du dépôt international 08.02.2019
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 08.12.2020
CIB
G06F 13/16 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
13Interconnexion ou transfert d'information ou d'autres signaux entre mémoires, dispositifs d'entrée/sortie ou unités de traitement
14Traitement de demandes d'interconnexion ou de transfert
16pour l'accès au bus de mémoire
CPC
G06F 13/16
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
13Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
14Handling requests for interconnection or transfer
16for access to memory bus
Déposants
  • INTEL CORPORATION [US]/[US]
  • WU, Dujian [CN]/[CN] (BZ)
  • GE, Shijian [CN]/[CN] (BZ)
  • BU, Daocheng [CN]/[CN] (BZ)
Inventeurs
  • WU, Dujian
  • GE, Shijian
  • BU, Daocheng
Mandataires
  • CHINA PATENT AGENT (H.K.) LTD.
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SELECTIVE MARGIN TESTING TO DETERMINE WHETHER TO SIGNAL TRAIN A MEMORY SYSTEM
(FR) TEST DE MARGE SÉLECTIF PERMETTANT DE DÉTERMINER S'IL CONVIENT D'APPRENDRE DES SIGNAUX POUR UN SYSTÈME DE MÉMOIRE
Abrégé
(EN)
Method, systems and apparatuses may provide for technology that executes a margin test of a first memory storage based on a subset of first signals associated with the first memory storage. The technology determines, based on the margin test, first margin data to indicate whether the first memory storage complies with one or more electrical constraints. The technology determines, based on the first margin data, whether to execute a signal training process.
(FR)
L'invention concerne un procédé, des systèmes et des appareils pouvant fournir une technologie qui exécute un test de marge d'une première mémoire en fonction d'un sous-ensemble de premiers signaux associés à la première mémoire. La technologie détermine, en fonction du test de marge, des premières données de marge afin d'indiquer si la première mémoire est conforme à une ou plusieurs contraintes électriques. La technologie détermine, en fonction des premières données de marge, s'il convient d'exécuter un processus d'apprentissage de signal.
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