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1. WO2020160159 - TEST STRUCTUREL DANS UN SYSTÈME D'UN SYSTÈME SUR PUCE (SOC) À L'AIDE D'UN PORT D'INTERFACE PÉRIPHÉRIQUE

Numéro de publication WO/2020/160159
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/US2020/015696
Date du dépôt international 29.01.2020
CIB
G01R 31/3185 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/2834
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
G01R 31/31713
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31712Input or output aspects
31713Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
G01R 31/3177
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
G01R 31/318505
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318505Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's
G01R 31/31907
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31907Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
G01R 31/31917
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
Déposants
  • QUALCOMM INCORPORATED [US]/[US]
Inventeurs
  • KISHORE, Punit
  • BEN-CHEN, Tomer Rafael
  • GRAIF, Sharon
Mandataires
  • TSAI, Terry
Données relatives à la priorité
16/262,55030.01.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) IN-SYSTEM STRUCTURAL TESTING OF A SYSTEM-ON-CHIP (SOC) USING A PERIPHERAL INTERFACE PORT
(FR) TEST STRUCTUREL DANS UN SYSTÈME D'UN SYSTÈME SUR PUCE (SOC) À L'AIDE D'UN PORT D'INTERFACE PÉRIPHÉRIQUE
Abrégé
(EN)
A method of in-system structural testing of a system-on-chip (SoC) using a peripheral interface port is described. The method including enabling a scan interface controller of the SoC through the peripheral interface port. The method also includes streaming structural test patterns in the SoC through the scan interface controller.
(FR)
L'invention concerne un procédé de test structurel dans un système d'un système sur puce (SoC) à l'aide d'un port d'interface périphérique. Le procédé comprend l'activation d'un dispositif de commande d'interface de balayage du SoC par l'intermédiaire du port d'interface périphérique. Le procédé comprend également la diffusion en continu de motifs de test structurel dans le SoC par l'intermédiaire du dispositif de commande d'interface de balayage.
Également publié en tant que
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