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1. WO2020159209 - PORTE-ÉCHANTILLON POUR CRISTAL À BASE D'UN FILET POUR CRISTALLOGRAPHIE CONTINUE

Numéro de publication WO/2020/159209
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/KR2020/001315
Date du dépôt international 29.01.2020
CIB
G01N 1/36 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28Préparation d'échantillons pour l'analyse
36Enrobage ou montage analogue d'échantillons
G01N 3/20 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
20en appliquant des efforts permanents de flexion
G01N 35/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
CPC
G01N 1/36
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
36Embedding or analogous mounting of samples
G01N 2035/00138
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00029provided with flat sample substrates, e.g. slides
00099Characterised by type of test elements
00138Slides
G01N 2223/056
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
05by diffraction, scatter or reflection
056diffraction
G01N 3/20
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
3Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
20by applying steady bending forces
G01N 35/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
G01N 35/00029
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00029provided with flat sample substrates, e.g. slides
Déposants
  • 고려대학교 산학협력단 KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION [KR]/[KR]
  • 포항공과대학교 산학협력단 POSTECH RESEARCH AND BUSINESS DEVELOPMENT FOUNDATION [KR]/[KR]
Inventeurs
  • 남기현 NAM, Ki Hyun
  • 조윤제 CHO, Yunje
Mandataires
  • 이명진 LEE, Myoung-Jin
Données relatives à la priorité
10-2019-001218330.01.2019KR
Langue de publication coréen (KO)
Langue de dépôt coréen (KO)
États désignés
Titre
(EN) MESH-BASED CRYSTAL SAMPLE HOLDER FOR CONTINUOUS CRYSTALLOGRAPHY
(FR) PORTE-ÉCHANTILLON POUR CRISTAL À BASE D'UN FILET POUR CRISTALLOGRAPHIE CONTINUE
(KO) 연속 결정학을 위한 메쉬 기반 결정 시료 홀더
Abrégé
(EN)
The present invention relates to a sample holder on which a crystal sample for continuous crystallography is mounted, or the like. Compared with an existing sample holder, the sample holder according to the present invention can be manufactured by a very simple manufacturing process and at low costs, and does not physically and chemically affect other equipment therearound while collecting X-ray diffraction data. Therefore, it is possible to stably operate a beam line, to increase beam time efficiency, and further to perform raster scanning so that many diffraction images can be obtained even in a small-sized chip. In addition, since the problem of evaporation of a crystallized solution does not occur even when the crystallized solution is stored in the air for a long time, the sample holder is generally easy to use compared to a previously reported sample holder. Therefore, it is expected that the sample holder is very likely to be variously applied to the fixed sample continuous crystallographic research field using various samples.
(FR)
La présente invention concerne un porte-échantillon sur lequel un échantillon cristallin pour cristallographie continue est monté, ou similaire. Par comparaison avec un porte-échantillon existant, le porte-échantillon selon la présente invention peut être fabriqué par un procédé de fabrication très simple et pour un coût faible, et n'affecte ni physiquement ni chimiquement d'autres équipements aux alentours lors de la collecte de données de diffraction des rayons X. Par conséquent, il est possible de faire fonctionner de manière stable une ligne de faisceaux, d'augmenter l'efficacité du temps de faisceau et de réaliser, en outre, un balayage de trame de telle sorte que de nombreuses images de diffraction peuvent être obtenues même dans une puce de petite taille. De plus, étant donné que le problème de l'évaporation d'une solution cristallisée ne se produit pas même lorsque la solution cristallisée est stockée à l'air pendant une longue période, le porte-échantillon est généralement facile à utiliser par comparaison avec un porte-échantillon de l'état de la technique. Par conséquent, on s'attend à ce que le porte-échantillon soit très susceptible d'être appliqué de diverses manières dans le champ de la recherche en cristallographie continue à échantillon fixe utilisant divers échantillons.
(KO)
본 발명은 연속 결정학을 위한 결정 시료 장착용 시료 홀더 등에 관한 것으로, 본 발명의 시료 홀더는 기존의 시료 홀더와 비교시 제작 과정이 매우 단순하며 저비용으로 제작가능하며 X선 회절 데이터를 수집하는 동안 주변의 다른 장비에 물리적, 화학적 영향을 주지 않는다. 따라서, 빔라인을 안정적으로 운영할 수 있고, 빔타임 효율을 높힐 수 있으며 나아가, 점방식 스캔 (raster scan)이 가능하여 작은 크기의 칩에서도 많은 회절 이미지를 얻을 수 있다. 또한, 장시간 대기중에 보관하더라도 결정화 용액이 증발하는 문제가 발생하지 않으므로 기존에 보고된 시료 홀더에 비해서 전반적으로 사용이 용이하여 다양한 시료를 이용한 고정시료 연속 결정학 연구분야에 다양하게 응용될 가능성이 매우 높을 것으로 기대된다.
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