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1. WO2020154812 - SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UN INDICE DE RÉFRACTION D'UN MILIEU

Numéro de publication WO/2020/154812
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/CA2020/050113
Date du dépôt international 30.01.2020
CIB
G01N 21/41 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
G02B 21/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
CPC
G01N 21/453
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
45using interferometric methods; using Schlieren methods
453Holographic interferometry
Déposants
  • UNIVERSITÉ LAVAL [CA]/[CA]
Inventeurs
  • BÉLANGER, Erik
  • MARQUET, Pierre
  • DE DORLODOT, Bertrand
  • VALLÉE, Réal
Mandataires
  • NORTON ROSE FULBRIGHT CANADA LLP / S.E.N.C.R.L., S.R.L.
Données relatives à la priorité
62/799,81901.02.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING A REFRACTIVE INDEX OF A MEDIUM
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UN INDICE DE RÉFRACTION D'UN MILIEU
Abrégé
(EN)
There is described a method for determining a refractive index of a medium. The method generally has providing a substrate having a surface, the surface having a first surface portion and a second surface portion spaced-apart from the first surface portion and recessed of a depth relative to the first surface portion; receiving the medium at least on the second surface portion; propagating a first optical beam towards the first surface portion and a second optical beam towards the second surface portion; collecting the first and second optical beams after said propagating and generating first and second signals being indicative of a phase of a respective one of the first and second collected optical beams; and determining a refractive index of said medium based on the first and second signals, the depth, a wavelength associated to the first and second optical beams and a refractive index of the substrate.
(FR)
L'invention concerne un procédé de détermination d'un indice de réfraction d'un milieu. Le procédé comprend généralement la fourniture d'un substrat ayant une surface, la surface ayant une première partie de surface et une seconde partie de surface espacée de la première partie de surface et renfoncée d'une profondeur par rapport à la première partie de surface; la réception du milieu au moins sur la seconde partie de surface; la propagation d'un premier faisceau optique vers la première partie de surface et un second faisceau optique vers la seconde partie de surface; la collecte des premier et second faisceaux optiques après ladite propagation et la génération de premier et second signaux indiquant une phase d'un faisceau respectif parmi les premier et second faisceaux optiques collectés; et la détermination d'un indice de réfraction dudit milieu sur la base des premier et second signaux, de la profondeur, d'une longueur d'onde associée aux premier et second faisceaux optiques et d'un indice de réfraction du substrat.
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