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1. WO2020117370 - SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE SIMULATION D'UN MATÉRIAU

Numéro de publication WO/2020/117370
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/055919
Date du dépôt international 11.10.2019
CIB
G06F 17/50 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17Équipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
50Conception assistée par ordinateur
Déposants
  • GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION [US]/[US]
Inventeurs
  • RAMPRASAD, Rampi
  • CHANDRASEKARAN, Anand
Mandataires
  • WEEKS, Dustin B.
  • SCHNEIDER, Ryan A.
Données relatives à la priorité
62/744,59311.10.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYSTEMS AND METHODS FOR MATERIAL SIMULATION
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE SIMULATION D'UN MATÉRIAU
Abrégé
(EN)
A system for a material simulation is disclosed. The system may receive an input structure for the material and identify a reference grid point for the material. The system may determine a scalar, vector, and tensorial component for the material. Further, the system may render the vector component and the tensorial component rotationally invariant. Next, the system may generate a first structure fingerprint for the material based on the scalar, vector component, and tensorial component. The system may map the structure fingerprint to stored atomic configurations and based on corresponding stored atomic configuration(s), may determine an approximate total electronic charge density and a plurality of approximate energy levels for the reference grid point. Based on the plurality of approximate energy levels, the system may determine a predictive local density of states for the reference grid point. The system may also generate and display a visual simulation of the material.
(FR)
L'invention concerne un système de simulation d'un matériau. Le système peut recevoir une structure d'entrée pour le matériau et identifier un point de grille de référence pour ledit matériau. Le système peut déterminer une composante scalaire, une composante vectorielle et une composante tensorielle pour ledit matériau. En outre, le système peut rendre la composante vectorielle et la composante tensorielle invariantes en rotation. Ensuite, le système peut générer une première empreinte de structure pour le matériau sur la base de la composante scalaire, de la composante vectorielle et de la composante tensorielle. Le système peut mapper l'empreinte de structure sur des configurations atomiques stockées et, sur la base d'une (de) configuration(s) atomique(s) stockée(s) correspondante(s), peut déterminer une densité de charge électronique totale approximative et une pluralité de niveaux d'énergie approximatifs pour le point de grille de référence. Sur la base de la pluralité de niveaux d'énergie approximatifs, le système peut déterminer une densité locale prédictive d'états pour le point de grille de référence. Le système peut également générer et afficher une simulation visuelle du matériau.
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