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1. WO2020116236 - DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROGRAMME DE DISPOSITIF D'INSPECTION

Numéro de publication WO/2020/116236
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/046137
Date du dépôt international 26.11.2019
CIB
G01R 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
G01R 31/50 2020.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
50Test d’appareils, de lignes, de câbles ou de composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de continuité, de fuites de courant ou de connexions incorrectes de lignes
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 19/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
G01R 31/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
G01R 31/319
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
G01R 31/50
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
Déposants
  • 日本電産リード株式会社 NIDEC-READ CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 栗原 靖人 KURIHARA Yasuhito
Mandataires
  • 柳野 隆生 YANAGINO Takao
  • 柳野 嘉秀 YANAGINO Yoshihide
  • 森岡 則夫 MORIOKA Norio
  • 関口 久由 SEKIGUCHI Hisayoshi
  • 大西 裕人 OHNISHI Hiroto
Données relatives à la priorité
2018-22874906.12.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND INSPECTION DEVICE PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROGRAMME DE DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置、検査方法、及び検査装置用プログラム
Abrégé
(EN)
Provided is an inspection method for inspecting a portion A to be inspected in which a plurality of current paths A1, A2 having diode characteristics are connected in parallel. The inspection method comprises a measuring process step in which, while allowing a current with a preset first current value Ia to flow between the ends of the portion A to be inspected, a voltage across the ends is measured as a first voltage value Va, wherein the first current value Ia is smaller than or equal to a current value at which the voltage across the ends of the portion A to be inspected, when normal, substantially becomes an on-voltage Von.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'inspection permettant d'inspecter une partie A à inspecter dans laquelle une pluralité de trajets de courant (A1, A2) présentant des caractéristiques de diode sont connectés en parallèle. Le procédé d'inspection comprend une étape de traitement de mesure dans laquelle, tout en permettant à un courant présentant une première valeur de courant prédéfinie Ia de circuler entre les extrémités de la partie A à inspecter, une tension aux bornes est mesurée en tant que première valeur de tension Va, la première valeur de courant Ia étant inférieure ou égale à une valeur de courant à laquelle la tension aux bornes de la partie A à inspecter, lorsqu'elle est normale, devient sensiblement une tension de mise en marche.
(JA)
ダイオード特性を有する複数の電流経路A1,A2が並列接続された検査対象部Aの検査を行う検査方法であって、予め設定された第一電流値Iaの電流を前記両端間に流しつつ、前記両端間の電圧を第一電圧値Vaとして測定する測定処理工程を含み、第一電流値Iaは、正常な検査対象部Aの両端間の電圧が実質的にオン電圧Vonになる電流値以下である。
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