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1. WO2020114426 - PROCÉDÉ D'ÉCHANTILLONNAGE DE COURANT ET CIRCUIT D'ÉCHANTILLONNAGE DE COURANT

Numéro de publication WO/2020/114426
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2019/123040
Date du dépôt international 04.12.2019
CIB
G01R 19/25 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
25utilisant une méthode de mesure numérique
CPC
G01R 19/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
25using digital measurement techniques
Déposants
  • 宁德时代新能源科技股份有限公司 CONTEMPORARY AMPEREX TECHNOLOGY CO., LIMITED [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 侯贻真 HOU, Yizhen
  • 但志敏 DAN, Zhimin
  • 张伟 ZHANG, Wei
  • 蔡金博 CAI, Jinbo
  • 郑雄 ZHENG, Xiong
Mandataires
  • 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 BEIJING EAST IP LTD.
Données relatives à la priorité
201811474923.504.12.2018CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) CURRENT SAMPLING METHOD AND CURRENT SAMPLING CIRCUIT
(FR) PROCÉDÉ D'ÉCHANTILLONNAGE DE COURANT ET CIRCUIT D'ÉCHANTILLONNAGE DE COURANT
(ZH) 电流采样方法和电流采样电路
Abrégé
(EN)
A current sampling method (100) and a current sampling circuit. The method (100) comprises: acquiring a detection temperature of each semiconductor switch device (M1-Mn) amongst a plurality of semiconductor switch devices (M1-Mn) connected in parallel (S110); on the basis of the detection temperature of each semiconductor switch device (M1-Mn), determining that the plurality of semiconductor switch devices (M1-Mn) connected in parallel are in a current equalisation state (S120); in the current equalisation state, acquiring an equalising current flowing through a target semiconductor switch device (M1), the target semiconductor switch device (M1) being any one semiconductor switch device (M1-Mn) amongst the plurality of semiconductor switch devices (M1-Mn) connected in parallel (S130); and, on the basis of the equalising current, determining the total current of the main circuit connected to the plurality of semiconductor switch devices (M1-Mn) connected in parallel (S140). Current sampling accuracy is thereby improved.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'échantillonnage de courant (100) et un circuit d'échantillonnage de courant. Le procédé (100) comprend les étapes consistant à : acquérir une température de détection de chaque appareil de connexion à semiconducteur (M1-Mn) parmi une pluralité d'appareils de connexion à semiconducteur (M1-Mn) connectés en parallèle (S110) ; sur la base de la température de détection de chaque appareil de connexion à semiconducteur (M1-Mn), déterminer que la pluralité d'appareils de connexion à semiconducteur (M1-Mn) connectés en parallèle est dans un état d'égalisation de courant (S120) ; dans l'état d'égalisation de courant, acquérir un courant d'égalisation circulant à travers un appareil de connexion à semiconducteur cible (M1), l'appareil de connexion à semiconducteur cible (M1) étant un quelconque appareil de connexion à semiconducteur (M1-Mn) parmi la pluralité d'appareils de connexion à semiconducteur (M1-Mn) connectés en parallèle (S130) ; et, sur la base du courant d'égalisation, déterminer le courant total du circuit principal connecté à la pluralité d'appareils de connexion à semi-conducteur (M1-Mn) connectés en parallèle (S140). La précision d'échantillonnage de courant est ainsi améliorée.
(ZH)
一种电流采样方法(100)和电流采样电路。方法(100)包括:获取多个并联的半导体开关器件(M1-Mn)中每个半导体开关器件(M1-Mn)的检测温度(S110);基于每个半导体开关器件(M1-Mn)的检测温度,确定多个并联的半导体开关器件(M1-Mn)处于电流均衡状态(S120);在电流均衡状态下,获取流过目标半导体开关器件(M1)的均衡电流,目标半导体开关器件(M1)为多个并联的半导体开关器件(M1-Mn)中的任一半导体开关器件(M1-Mn)(S130);根据均衡电流,确定与多个并联的半导体开关器件(M1-Mn)连接的主回路的总电流(S140)。由此提高了电流的采样精度。
Également publié en tant que
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