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1. WO2020114330 - PROCÉDÉ DE LOCALISATION DE POINT D'IMPACT DE RAYON DANS UN CRISTAL DE SCINTILLATION ET SYSTÈME CORRESPONDANT

Numéro de publication WO/2020/114330
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2019/122005
Date du dépôt international 29.11.2019
CIB
G01T 1/29 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
29Mesure effectuée sur des faisceaux de radiations, p.ex. sur la position ou la section du faisceau; Mesure de la distribution spatiale de radiations
A61B 6/03 2006.01
ANÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
BDIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
02Dispositifs pour établir un diagnostic dans des plans différents successifs; Diagnostic stéréoscopique utilisant des radiations
03Tomographes assistés par ordinateur
CPC
G01T 1/202
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16Measuring radiation intensity
20with scintillation detectors
202the detector being a crystal
Déposants
  • 深圳先进技术研究院 SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 杨永峰 YANG, Yongfeng
  • 章先鸣 ZHANG, Xianming
  • 桑子儒 SANG, Ziru
  • 梁栋 LIANG, Dong
  • 刘新 LIU, Xin
  • 郑海荣 ZHENG, Hairong
Mandataires
  • 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) SHENZHEN KEJIN INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE
Données relatives à la priorité
201811496270.007.12.2018CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR LOCATING HIT POINT OF RAY IN SCINTILLATION CRYSTAL, AND SYSTEM THEREFOR
(FR) PROCÉDÉ DE LOCALISATION DE POINT D'IMPACT DE RAYON DANS UN CRISTAL DE SCINTILLATION ET SYSTÈME CORRESPONDANT
(ZH) 一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法及其系统
Abrégé
(EN)
Disclosed are a method for locating a hit point of a ray in a scintillation crystal, and a system therefor. The method comprises the following steps: determining a hit detector module according to the total amplitude of signals respectively received by all detector modules (S11); calculating the position of a reference hit point by means of a pre-set algorithm and according to a signal received by the hit detector module (S12); determining whether the position of the reference hit point is located in an internal area of the hit detector module (S13); when the position of the reference hit point is located in the internal area of the hit detector module, taking the position of the reference hit point as the position of a hit point (S14); and when the position of the reference hit point is located in an edge area of the hit detector module, using the hit detector module and the respective signals generated by the detector modules to relocate the hit point by means of the pre-set algorithm (S15).
(FR)
L'invention concerne un procédé de localisation d'un point d'impact d'un rayon dans un cristal de scintillation, ainsi qu'un système associé. Le procédé comprend les étapes suivantes consistant : à déterminer un module de détecteur d'impact en fonction de l'amplitude totale de signaux reçus respectivement par tous les modules de détecteur (S11) ; à calculer la position d'un point d'impact de référence au moyen d'un algorithme prédéfini et en fonction d'un signal reçu par le module de détecteur d'impact (S12) ; à déterminer si la position du point d'impact de référence est située dans une zone interne du module de détecteur d'impact (S13) ; lorsque la position du point d'impact de référence est localisée dans la zone interne du module de détecteur d'impact, à prendre la position du point d'impact de référence en tant que position d'un point d'impact (S14) ; et lorsque la position du point d'impact de référence est localisée dans une zone de bord du module de détecteur d'impact, à utiliser le module de détecteur d'impact et les signaux respectifs générés par les modules de détecteur afin de relocaliser le point d'impact au moyen de l'algorithme prédéfini (S15).
(ZH)
一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法及其系统,方法包括以下步骤:依据每个探测器模块分别接收到的信号总幅度确定击中探测器模块(S11),依据所述击中探测器模块接收到的信号通过预设定的算法计算参考击中点的位置(S12),判断所述参考击中点的位置是否在所述击中探测器模块的内部区域(S13),当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的内部区域时,将所述参考击中点的位置作为击中点的位置(S14),当所述参考击中点的位置位于所述击中探测器模块的边缘区域时,利用击中探测器模块以及从探测器模块各自产生的信号,通过预设定的算法对击中点重新定位(S15)。
Également publié en tant que
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