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1. WO2020112389 - SONDE DE SPECTROSCOPIE RAMAN EXALTÉE PAR EFFET DE POINTE (TERS) À EXCITATION À DISTANCE POUR IMAGERIE TERS À L'ÉCHELLE NANOMÉTRIQUE

Numéro de publication WO/2020/112389
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/061720
Date du dépôt international 15.11.2019
CIB
G01J 3/44 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28Etude du spectre
44Spectrométrie Raman; Spectrométrie par diffusion
G01J 3/447 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28Etude du spectre
447Spectrométrie par polarisation
G01N 21/65 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
65Diffusion de Raman
G01Q 60/24 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
G01Q 60/40 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
40Sondes conductrices
G02B 27/10 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
10Systèmes divisant ou combinant des faisceaux
CPC
G01J 3/44
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
44Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; ; Fluorescence spectrometry
G01N 21/658
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
658enhancement Raman, e.g. surface plasmons
G01Q 60/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
02Multiple-type SPM, i.e. involving more than one SPM techniques
06SNOM [Scanning Near-field Optical Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy]
G01Q 70/12
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
70General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
08Probe characteristics
10Shape or taper
12Nanotube tips
G02B 27/10
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
10Beam splitting or combining systems
Déposants
  • THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA [US]/[US]
Inventeurs
  • LIU, Ming
  • YAN, Ruoxue
  • MA, Xuezhi
Mandataires
  • NUZUM, Kirk M.
Données relatives à la priorité
62/772,45928.11.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) REMOTE-EXCITATION TIP-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY (TERS) PROBE FOR NANOSCALE TERS IMAGING
(FR) SONDE DE SPECTROSCOPIE RAMAN EXALTÉE PAR EFFET DE POINTE (TERS) À EXCITATION À DISTANCE POUR IMAGERIE TERS À L'ÉCHELLE NANOMÉTRIQUE
Abrégé
(EN)
A method is disclosed for spatial resolution tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) imaging. The method includes physically separating a light excitation region from a Raman signal generation region on a remote-excitation tip-enhanced Raman spectroscopy (RE-TERS) probe. Also disclosed is a method of fabricating a remote-excitation tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) probe, and s system for spatial resolution tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) imaging. The system includes an atomic force microscopy-tip-enhanced Raman spectroscopy (AFM-TERS) system, the AFM-TERS system having a RE-TERS probe having a conical tip, the conical tip tapering to a silver nanowire tip (AgNW tip), a silver nanocrystal (AgNC) attached to a side wall of a nanowire (NW) at an incident angle, a laser, the laser configured to propagate excited surface plasmon polaritons (SPPs) along the nanowire (NW), the nanowire (NW) configured to generate compressed excited surface plasmon polaritons (SPPs), and wherein the conical tip of the nanowire (NW) is configured to generate a nano-sized hot spot at a tip apex for TERS excitation, and an object lens configured to collect a TERS signal scattered by the silver nanowire tip (AgNW tip).
(FR)
La présente invention concerne un procédé d'imagerie par spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe à résolution spatiale. Le procédé comprend la séparation physique d'une région d'excitation lumineuse d'une région de génération de signal Raman sur une sonde de spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe à excitation à distance. L'invention concerne également un procédé de fabrication d'une sonde de spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe (TERS) à excitation à distance et un système d'imagerie par spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe à résolution spatiale. Le système comprend un système de microscopie à force atomique/spectroscopie Raman exaltée par effet de point (AFM-TERS), le système AFM-TERS comportant une sonde RE-TERS pourvue d'une pointe conique, la pointe conique se rétrécissant vers une pointe de nanofil en argent (pointe AgNW), un nanocristal d'argent (AgNC) fixé à une paroi latérale d'un nanofil (NW) à un angle incident, un laser, le laser étant configuré pour propager des polaritons plasmoniques de surface (SPP) excités le long du nanofil (NW), le nanofil (NW) étant configuré pour générer des polaritons plasmoniques de surface (SPP) excités compressés, la pointe conique du nanofil (NW)) étant configurée pour générer un point chaud de taille nanométrique au niveau d'un sommet de la pointe à des fins d'excitation TERS, et une lentille d'objectif configurée pour collecter un signal TERS diffusé par la pointe de nanofil en argent (pointe AgNW).
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