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1. WO2020111075 - UNITÉ DE SONDE

Numéro de publication WO/2020/111075
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/046234
Date du dépôt international 26.11.2019
CIB
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
G01R 1/073 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
G01R 31/26 2020.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H01R 33/76 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
RCONNEXIONS CONDUCTRICES DE L'ÉLECTRICITÉ; ASSOCIATION STRUCTURELLE DE PLUSIEURS ÉLÉMENTS DE CONNEXION ÉLECTRIQUE ISOLÉS LES UNS DES AUTRES; DISPOSITIFS DE COUPLAGE; COLLECTEURS DE COURANT
33Dispositifs de couplage spécialement conçus pour supporter un appareil et munis d'une pièce de couplage assurant la fonction de support et la connexion électrique par l'intermédiaire d'une pièce complémentaire qui est structurellement associée à l'appareil, p.ex. supports de lampes; Leurs pièces détachées
74Dispositifs ayant quatre pôles ou plus
76Supports avec alvéoles, pinces ou contacts analogues, adaptés pour l'engagement axial par glissement, avec des broches, lames ou contacts analogues disposés parallèlement sur la pièce complémentaire, p.ex. support pour tube électronique
CPC
G01R 1/067
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
G01R 1/073
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
G01R 31/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
H01R 33/76
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
33Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
74Devices having four or more poles ; , e.g. holders for compact fluorescent lamps
76Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
Déposants
  • 日本発條株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 井沼 毅 INUMA, Tsuyoshi
  • 高橋 秀志 TAKAHASHI, Shuji
Mandataires
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
Données relatives à la priorité
2018-22149327.11.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) PROBE UNIT
(FR) UNITÉ DE SONDE
(JA) プローブユニット
Abrégé
(EN)
This probe unit comprises: a first contact probe in contact with a signal electrode; a second contact probe in contact with a ground electrode; a probe holder having formed therein a first holder hole that penetrates the first contact probe and a second holder hole that penetrates the second contact probe; and a conductive floating that has a first through-hole and a second through-hole formed therein, said first through-hole having one end of the first contact probe inserted from one end side thereof and a contact-target electrode inserted from the other end side thereof, and said second through-hole having one end of the second contact probe inserted from one end side thereof and the ground electrode inserted from the other end side. The probe unit has a coaxial structure whereby the center axis of the first contact probe and the center axis of the first through-hole of the floating match.
(FR)
L'invention concerne une unité de sonde comprenant : une première sonde de contact en contact avec une électrode de signal ; une seconde sonde de contact en contact avec une électrode de masse ; un support de sonde dans lequel est formé un premier trou de support qui pénètre dans la première sonde de contact et un second trou de support qui pénètre dans la seconde sonde de contact ; et un flotteur conducteur possédant un premier trou traversant et un second trou traversant formé en son sein, ledit premier trou traversant présentant une extrémité de la première sonde de contact insérée depuis un côté d'extrémité et une électrode de cible de contact insérée depuis son autre côté d'extrémité, et ledit second trou traversant présentant une extrémité de la seconde sonde de contact insérée depuis un côté d'extrémité et l'électrode de masse insérée depuis son autre côté d'extrémité. L'unité de sonde présente une structure coaxiale grâce à laquelle l'axe central de la première sonde de contact et l'axe central du premier trou traversant du flotteur correspondent l'un à l'autre.
(JA)
本発明にかかるプローブユニットは、信号用の電極と接触する第1のコンタクトプローブと、グランド用の電極と接触する第2のコンタクトプローブと、第1のコンタクトプローブを挿通する第1ホルダ孔と、第2のコンタクトプローブを挿通する第2ホルダ孔とが形成されたプローブホルダと、一端側から第1のコンタクトプローブの一方の端部が挿入され、他端側から接触対象の電極が挿入される第1貫通孔と、一端側から第2のコンタクトプローブの一方の端部が挿入され、他端側からグランド用の電極が挿入される第2貫通孔とが形成された導電性のフローティングと、を備え、第1のコンタクトプローブの中心軸と、フローティングの第1貫通孔の中心軸とが一致した同軸構造をなす。
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