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1. WO2020110264 - SPECTROMÈTRE DE MASSE

Numéro de publication WO/2020/110264
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2018/044042
Date du dépôt international 29.11.2018
CIB
H01J 49/24 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
24Systèmes à vide, p.ex. maintenant des pressions voulues
G01N 27/62 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
H01J 49/04 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
04Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
H01J 49/06 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
06Dispositifs électronoptiques ou ionoptiques
H01J 49/10 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
10Sources d'ions; Canons à ions
H01J 49/42 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34Spectromètres dynamiques
42Spectromètres à stabilité de trajectoire, p.ex. monopôles, quadripôles, multipôles, farvitrons
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
H01J 49/04
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
H01J 49/06
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
06Electron- or ion-optical arrangements
H01J 49/10
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
H01J 49/24
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
24Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
H01J 49/42
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
Déposants
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 上田 学 UEDA, Manabu
  • 中野 智仁 NAKANO, Tomohito
  • 田中 雄樹 TANAKA, Yuki
Mandataires
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé
(EN)
The mass spectrometer according to the present invention is a single-type quadrupole mass spectrometer in which an ion source derived through an ESI method is mounted, the mass spectrometer being a compact device comprising a vacuum pump that has a relatively low exhaust velocity. The inside diameter of a desolvation pipe (11) for guiding ions from an ionization chamber (2) to a first intermediate vacuum chamber (3) is set to 0.4 mm, which is large for a small-scale mass spectrometer, and the exhaust velocity of a rotary pump (18) is established so that the product of the cross-sectional opening area of the desolvation pipe (11) and the pressure inside the first intermediate vacuum chamber (3) is within the range of 15-40 mm2・Pa. This makes it possible to ensure a high detection sensitivity and to reduce clogging of the desolvation pipe (11) due to liquid droplets. In addition, because the pressure inside the first intermediate vacuum chamber (3) is not set higher than necessary, it is possible to use a compact pump having a low exhaust velocity as the rotary pump (18).
(FR)
La présente invention concerne un spectromètre de masse qui est un spectromètre de masse quadripôle de type unique dans lequel une source d’ions dérivée à travers un procédé ESI est montée, le spectromètre de masse étant un dispositif compact comprenant une pompe à vide qui a une vélocité d’échappement relativement faible. Le diamètre intérieur d’un tuyau de désolvatation (11) destiné à guider des ions d’une chambre d’ionisation (2) vers une première chambre à vide intermédiaire (3) est défini à 0,4 mm, ce qui est large pour un spectromètre de masse à petite échelle, et la vélocité d’échappement d’une pompe rotative (18) est établie de sorte que le produit de l’aire d’ouverture en section transversale du tuyau de désolvatation (11) et de la pression à l’intérieur de la première chambre à vide intermédiaire (3) est compris entre 15 et 40 mm2∙Pa. Cela permet d’assurer une haute sensibilité de détection et de réduire l’encrassement du tuyau de désolvatation (11) en raison de gouttelettes de liquide. De plus, parce que la pression à l’intérieur de la première chambre à vide intermédiaire (3) n’est pas définie au-delà du nécessaire, il est possible d’utiliser une pompe compacte dont la vélocité d’échappement est faible en tant que pompe rotative (18).
(JA)
本発明に係る質量分析装置は、ESI法によるイオン源を搭載したシングルタイプの四重極型質量分析装置であり、排気速度が相対的に小さい真空ポンプを備えた小形の装置である。イオンをイオン化室(2)から第1中間真空室(3)に導入するための脱溶媒管(11)の内径を、小型質量分析装置としては大きな0.4mmφとし、脱溶媒管(11)の断面開口の面積と第1中間真空室(3)内の圧力との積が15~40mm2・Pa の範囲内となるようにロータリーポンプ(18)の排気速度を決める。これにより、高い検出感度を確保するとともに液滴による脱溶媒管(11)の詰まりを軽減できる。また、第1中間真空室(3)内の圧力も必要以上に高くせずに済むため、ロータリーポンプ(18)として排気速度が小さな、小形のものを用いることができる。
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