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1. WO2020110163 - SPECTROMÈTRE DE MASSE

Numéro de publication WO/2020/110163
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2018/043313
Date du dépôt international 26.11.2018
CIB
H01J 49/10 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
10Sources d'ions; Canons à ions
G01N 27/62 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
H01J 49/10
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
Déposants
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 藤岡 真悟 FUJIOKA, Shingo
  • 西口 克 NISHIGUCHI, Masaru
  • 石原 ひかる ISHIHARA, Hikaru
Mandataires
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé
(EN)
A mass spectrometer according to one embodiment of the present invention includes a conductive probe (14), a high voltage generator (16) for applying a high voltage to the probe (14), a probe moving unit that moves the probe (14) between a sampling position (142) where the tip of the probe (14) is in contact with a sample (132) at a predetermined position, and an ion generation position (141) where the tip is away from the sample (132), an ion inlet (201) provided between the probe (14) at the ion generation position (141) and the sample (132) for taking the ions derived from sample components generated by applying a high voltage to the probe (14) at the ion generation position (141) from the atmospheric pressure atmosphere into the vacuum atmosphere, and an auxiliary electrode (13) which is provided between the probe (14) at the ion generation position (141) and the sample (132) so as to avoid the probe movement path (140) created by the probe moving unit and to which a predetermined potential is applied.
(FR)
Un spectromètre de masse selon un mode de réalisation de la présente invention comprend une sonde conductrice (14), un générateur haute tension (16) pour appliquer une haute tension à la sonde (14), une unité de déplacement de sonde qui déplace la sonde (14) entre une position d'échantillonnage (142) où la pointe de la sonde (14) est en contact avec un échantillon (132) au niveau d'une position prédéterminée, et une position de génération d'ions (141) où la pointe est éloignée de l'échantillon (132), une entrée d'ions (201) disposée entre la sonde (14) au niveau de la position de génération d'ions (141) et de l'échantillon (132) pour prendre les ions issus de composants d'échantillon générés par l'application d'une haute tension à la sonde (14) au niveau de la position de génération d'ions (141) à partir de l'atmosphère à pression atmosphérique dans l'atmosphère sous vide, et une électrode auxiliaire (13) qui est disposée entre la sonde (14) au niveau de la position de génération d'ions (141) et l'échantillon (132) de façon à éviter le trajet de déplacement de sonde (140) créé par l'unité de déplacement de sonde et auquel un potentiel prédéterminé est appliqué.
(JA)
本発明の一態様である質量分析装置は、導電性の探針(14)と、探針(14)に高電圧を印加する高電圧発生部(16)と、探針(14)の先端に試料の一部を付着させるべく、所定位置にある試料(132)に探針(14)の先端が接触する試料採取位置(142)とその先端が試料(132)から離れたイオン生成位置(141)との間で探針(14)を移動させる探針移動部と、イオン生成位置(141)にある探針(14)に高電圧が印加されることで発生した試料成分由来のイオンを、大気圧雰囲気中から真空雰囲気中へ取り込むために、イオン生成位置(141)にある探針(14)と試料(132)との間に設けられたイオン取込口(201)と、イオン生成位置(141)にある探針(14)と試料(132)との間であって、探針移動部による探針の移動経路(140)を避けて設けられ、且つ所定の電位が付与されている補助電極(13)と、を備える。
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