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1. WO2020109419 - PROCÉDÉ, INTERFÉROMÈTRE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL, PERMETTANT DE DÉTERMINER RESPECTIVEMENT UNE PHASE D'ENTRÉE ET/OU UNE AMPLITUDE D'ENTRÉE D'UN CHAMP LUMINEUX D'ENTRÉE

Numéro de publication WO/2020/109419
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2019/082799
Date du dépôt international 27.11.2019
CIB
G01B 9/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02Interféromètres
CPC
G01B 9/02098
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
9Instruments as specified in the subgroups and characterised by the use of optical measuring means
02Interferometers ; for determining dimensional properties of, or relations between, measurement objects
02097Self-interferometers, i.e. the object beam interfering with a shifted version of itself
02098shearing interferometers
G02B 21/14
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
06Means for illuminating specimens
08Condensers
14affording illumination for phase-contrast observation
G06T 7/557
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
50Depth or shape recovery
55from multiple images
557from light fields, e.g. from plenoptic cameras
Déposants
  • BERZ, Martin [DE]/[DE]
Inventeurs
  • BERZ, Martin
Mandataires
  • GLOBAL IP EUROPE PATENTANWALTSKANZLEI
Données relatives à la priorité
DE 10 2018 130 162.628.11.2018DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN, INTERFEROMETER UND SIGNALVERARBEITUNGSVORRICHTUNG, JEWEILS ZUR BESTIMMUNG EINER EINGANGSPHASE UND/ODER EINER EINGANGSAMPLITUDE EINES EINGANGSLICHTFELDS
(EN) METHOD, INTERFEROMETER AND SIGNAL PROCESSING DEVICE, EACH FOR DETERMINING AN INPUT PHASE AND/OR AN INPUT AMPLITUDE OF AN INPUT LIGHT FIELD
(FR) PROCÉDÉ, INTERFÉROMÈTRE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL, PERMETTANT DE DÉTERMINER RESPECTIVEMENT UNE PHASE D'ENTRÉE ET/OU UNE AMPLITUDE D'ENTRÉE D'UN CHAMP LUMINEUX D'ENTRÉE
Abrégé
(DE)
Es wird ein Verfahren, ein Interferometer und eine Signalverarbeitungsvorrichtung, jeweils zur Bestimmung einer Eingangsphase und/oder einer Eingangsamplitude eines Eingangslichtfelds, angegeben. Hierbei wird ein Eingangslichtfeld mittels Amplitudenteilung in ein erstes Lichtfeld und ein zweites Lichtfeld geteilt. Das erste Lichtfeld und des zweiten Lichtfelds werden derart propagiert, dass das propagierte zweite Lichtfeld relativ zu dem propagierten ersten Lichtfeld defokussiert ist. Das propagierte erste Lichtfeld mit dem propagierten Lichtfeld überlagert und zur Interferenz gebracht.
(EN)
The invention relates to a method, an interferometer and a signal processing device, each for determining an input phase and/or an input amplitude of an input light field. An input light field is divided into a first light field and a second light field via division of amplitude. The first light field and the second light field are propagated in such a way that the propagated second light field is defocused relative to the propagated first light field. The propagated first light field overlaps the propagated second light field and an interference is brought about.
(FR)
La présente invention concerne un procédé, un interféromètre et un dispositif de traitement de signal, permettant de déterminer respectivement une phase d'entrée et/ou une amplitude d'entrée d'un champ lumineux d'entrée. Selon l'invention, un champ lumineux d'entrée est divisé, au moyen d'une division d'amplitude, en un premier champ lumineux et un second champ lumineux. Le premier champ lumineux et le second champ lumineux sont propagés de telle sorte que le second champ lumineux propagé est défocalisé par rapport au premier champ lumineux propagé. Le premier champ lumineux propagé est superposé au champ lumineux propagé et mis en interférence.
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