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1. WO2020107445 - PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE POUR CAPTEUR

Numéro de publication WO/2020/107445
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2018/118686
Date du dépôt international 30.11.2018
CIB
G01D 18/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
18Test ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/129
CPC
G01D 18/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
18Testing or calibrating of apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
Déposants
  • 苏州数言信息技术有限公司 DATATELLIT (SUZHOU) INC. [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 张巧丽 ZHANG, Qiaoli
  • 孙宝石 SUN, Baoshi
Mandataires
  • 南京九致知识产权代理事务所(普通合伙) NANJING JIUZHI INTELLECTUAL PROPERTY FIRM (GENERAL PARTNERSHIP)
Données relatives à la priorité
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATIC CALIBRATION METHOD AND SYSTEM FOR SENSOR
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE POUR CAPTEUR
(ZH) 一种传感器的自动校准方法和系统
Abrégé
(EN)
An automatic calibration system and method for a sensor. A sensor is used for collecting sensor data and uploading same to a gateway; the gateway transmits the sensor data uploaded by the sensor to a cloud platform; a standard metering module is used for obtaining real value data of the sensor data corresponding to each sensor and transmitting same to the cloud platform; the cloud platform is used for transmitting the obtained sensor data and the real value data to a big data platform; the big data platform is used for storing the obtained sensor data, the real value data, and other condition data that is automatically counted and affects the accuracy of the sensor and transmitting same to a calibration module; the calibration module is used for analyzing the obtained data to obtain a calibration model corresponding to a target calibrated sensor or obtain a calibration model by means of machine learning; the calibration model is used for calibrating data during sensor calibration and outputting a calibration result.
(FR)
L’invention concerne un procédé et un système d'étalonnage automatique pour un capteur. Un capteur est utilisé pour collecter des données de capteur et les téléverser sur une passerelle ; la passerelle transmet les données de capteur téléversées par le capteur à une plateforme en nuage ; un module de compteur standard est utilisé pour obtenir des données de valeur réelle des données de capteur correspondant à chaque capteur et les transmettre à la plateforme en nuage ; la plateforme en nuage est utilisée pour transmettre les données de capteur obtenues et les données de valeur réelle à une plateforme de mégadonnées ; la plateforme de mégadonnées est utilisée pour mémoriser les données de capteur obtenues, les données de valeur réelle et d'autres données de condition qui sont automatiquement prises en compte et affectent la précision du capteur et les transmettre à un module d'étalonnage ; le module d'étalonnage est utilisé pour analyser les données obtenues pour obtenir un modèle d'étalonnage correspondant à un capteur étalonné cible ou obtenir un modèle d'étalonnage au moyen d'un apprentissage machine ; le modèle d'étalonnage est utilisé pour étalonner des données pendant l'étalonnage d'un capteur et délivrer en sortie un résultat d'étalonnage.
(ZH)
一种传感器的自动校准系统和方法。传感器用于采集传感器数据并上传至网关;网关将传感器所上传的传感器数据传递给云平台;标准计量模块用于获取各个传感器对应的传感器数据的真实值数据,并传递给云平台;云平台用于将获得的传感器数据、真实值数据传递给大数据平台;大数据平台用于将获得的传感器数据、真实值数据以及自动统计的且影响传感器准确度的其他条件数据存储并传递给校准模块;校准模块用于对获得的数据进行分析,获得目标校准传感器相应的校准模型或依靠机器学习获得校准模型;校准模型用于在传感器校准时校准数据并输出校准后的结果。
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