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1. WO2020071039 - SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉGRADATION

Numéro de publication WO/2020/071039
Date de publication 09.04.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/034731
Date du dépôt international 04.09.2019
CIB
G05B 23/02 2006.01
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
23Test ou contrôle des systèmes de commande ou de leurs éléments
02Test ou contrôle électrique
CPC
G05B 23/02
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
Déposants
  • 三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 若林 優一 WAKABAYASHI, Yuichi
  • 脇本 浩司 WAKIMOTO, Koji
  • 大塚 泉 OTSUKA, Izumi
  • 石飛 親人 ISHITOBI, Chikato
  • 原口 武久 HARAGUCHI, Takehisa
Mandataires
  • 田澤 英昭 TAZAWA, Hideaki
  • 濱田 初音 HAMADA, Hatsune
  • 中島 成 NAKASHIMA, Nari
  • 辻岡 将昭 TSUJIOKA, Masaaki
  • 井上 和真 INOUE, Kazuma
Données relatives à la priorité
2018-18664301.10.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) DEGRADATION SENSING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉGRADATION
(JA) 劣化検知システム
Abrégé
(EN)
This invention is provided with: a normal model construction unit (102) for constructing a normal model for another device on the basis of normal data for the other device; a degradation assessment model construction unit (104) for constructing a degradation assessment model for the other device on the basis of degradation data and the normal data for the other device; a normal model reconstruction unit (106) for constructing a normal model for a target device on the basis of the normal model for the other device and normal data for the target device; a degradation assessment model reconstruction unit (107) for constructing a degradation assessment model for the target device on the basis of a degradation assessment model for the other device and a normal model for the target device; and a degradation assessment unit (109) for assessing the degradation of the target device on the basis of operation data for the target device and a degradation assessment model for the target device.
(FR)
La présente invention comprend : une unité de construction de modèle normal (102) permettant de construire un modèle normal pour un autre dispositif sur la base de données normales pour l'autre dispositif ; une unité de construction de modèle d'évaluation de dégradation (104) permettant de construire un modèle d'évaluation de dégradation pour l'autre dispositif sur la base de données de dégradation et des données normales pour l'autre dispositif ; une unité de reconstruction de modèle normal (106) permettant de construire un modèle normal pour un dispositif cible sur la base du modèle normal pour l'autre dispositif et de données normales pour le dispositif cible ; une unité de reconstruction de modèle d'évaluation de dégradation (107) permettant de construire un modèle d'évaluation de dégradation pour le dispositif cible sur la base d'un modèle d'évaluation de dégradation pour l'autre dispositif et d'un modèle normal pour le dispositif cible ; et une unité d'évaluation de dégradation (109) permettant d'évaluer la dégradation du dispositif cible sur la base de données de fonctionnement pour le dispositif cible et d'un modèle d'évaluation de dégradation pour le dispositif cible.
(JA)
他機器の正常データに基づいて他機器の正常モデルを構築する正常モデル構築部(102)と、他機器の正常データ及び劣化データに基づいて他機器の劣化判定モデルを構築する劣化判定モデル構築部(104)と、他機器の正常モデル及び対象機器の正常データに基づいて対象機器の正常モデルを構築する正常モデル再構築部(106)と、他機器の劣化判定モデル及び対象機器の正常モデルに基づいて対象機器の劣化判定モデルを構築する劣化判定モデル再構築部(107)と、対象機器の稼動データ及び対象機器の劣化判定モデルに基づいて対象機器の劣化を判定する劣化判定部(109)とを備えた。
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