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1. WO2020068553 - CARACTÉRISATION D'ANTENNE PAR VOIE HERTZIENNE À SYNCHRONISATION DE MATÉRIEL

Numéro de publication WO/2020/068553
Date de publication 02.04.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/051918
Date du dépôt international 19.09.2019
CIB
G01R 29/08 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
08Mesure des caractéristiques du champ électromagnétique
CPC
G01R 1/07307
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
G01R 29/0871
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
08Measuring electromagnetic field characteristics
0864characterised by constructional or functional features
0871Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
G01R 29/105
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
08Measuring electromagnetic field characteristics
10Radiation diagrams of antennas
105using anechoic chambers; Chambers or open field sites used therefor
G01R 31/2822
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
2822of microwave or radiofrequency circuits
G01R 31/2884
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2884using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
H01L 22/34
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
22Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
34Circuits for electrically characterising or monitoring manufacturing processes, e. g. whole test die, wafers filled with test structures, on-board-devices incorporated on each die, process control monitors or pad structures thereof, devices in scribe line
Déposants
  • NATIONAL INSTRUMENTS CORPORATION [US]/[US]
Inventeurs
  • OROZCO VALDES, Gerardo
  • DECKERT, Thomas
  • LANGE, Johannes D.H.
  • WHITE, Christopher N.
  • GROSZ, Karl F.
Mandataires
  • HOOD, Jeffrey C.
Données relatives à la priorité
16/141,69725.09.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) HARDWARE TIMED OVER-THE-AIR ANTENNA CHARACTERIZATION
(FR) CARACTÉRISATION D'ANTENNE PAR VOIE HERTZIENNE À SYNCHRONISATION DE MATÉRIEL
Abrégé
(EN)
Antenna characterization systems and methods are described for hardware-timed testing of integrated circuits (IC) with integrated antennas configured for over-the-air transmission and/or reception. An IC to be tested (e.g., the device under test (DUT)) may be mounted to an adjustable positioner in an anechoic chamber. Radio frequency (RF) characteristics (e.g., including transmission characteristics, reception characteristics, and/or beamforming characteristics) of the IC may be tested over-the-air using an array of antennas or probes within the anechoic chamber while continually transitioning the adjustable positioner through a plurality of orientations. Counters and reference trigger intelligence may be employed to correlate measurement results with orientations of the DUT.
(FR)
L'invention concerne des systèmes et des procédés de caractérisation d'antenne pour un test à synchronisation de matériel de circuits intégrés (CI) avec des antennes intégrées conçues pour une émission et/ou une réception par voie hertzienne. Un CI à tester (par exemple, le dispositif testé (DUT)) peut être monté sur un positionneur réglable dans une chambre anéchoïque. Des caractéristiques de radiofréquence (RF) (par exemple, comprenant des caractéristiques de transmission, des caractéristiques de réception et/ou des caractéristiques de formation de faisceau) du CI peuvent être testées par voie hertzienne à l'aide d'un réseau d'antennes ou de sondes à l'intérieur de la chambre anéchoïque tout en faisant passer en continu le positionneur réglable à travers une pluralité d'orientations. Des compteurs et une intelligence de déclenchement de référence peuvent être utilisés pour corréler des résultats de mesure avec les orientations du DUT.
Également publié en tant que
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