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1. WO2020067393 - PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE DURÉE DE VIE DE CONDENSATEUR, PROGRAMME D'ESTIMATION DE DURÉE DE VIE DE DERNIER, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET CONDENSATEUR

Numéro de publication WO/2020/067393
Date de publication 02.04.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/038070
Date du dépôt international 27.09.2019
CIB
G01R 31/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
H01G 13/00 2013.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
GCONDENSATEURS; CONDENSATEURS, REDRESSEURS, DÉTECTEURS, DISPOSITIFS DE COMMUTATION, DISPOSITIFS PHOTOSENSIBLES OU SENSIBLES À LA TEMPÉRATURE, DU TYPE ÉLECTROLYTIQUE
13Appareils spécialement adaptés à la fabrication de condensateurs; Procédés spécialement adaptés à la fabrication de condensateurs non prévus dans les groupes H01G4/-H01G11/144
CPC
G01R 31/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
H01G 13/00
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
13Apparatus specially adapted for manufacturing capacitors; Processes specially adapted for manufacturing capacitors not provided for in groups H01G4/00 - H01G11/00
Déposants
  • 日本ケミコン株式会社 NIPPON CHEMI-CON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 千才 大蔵 SENZAI Daizou
  • 古川 敏彦 FURUKAWA Toshihiko
Mandataires
  • 畝本 正一 UNEMOTO Shoichi
  • 畝本 継立 UNEMOTO Tsugutatsu
  • 畝本 卓弥 UNEMOTO Takuya
  • 沖田 正樹 OKITA Masaki
Données relatives à la priorité
2018-18429028.09.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) CAPACITOR LIFESPAN ESTIMATION METHOD, LIFESPAN ESTIMATION PROGRAM THEREOF, INFORMATION PROCESSING DEVICE, AND CAPACITOR
(FR) PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE DURÉE DE VIE DE CONDENSATEUR, PROGRAMME D'ESTIMATION DE DURÉE DE VIE DE DERNIER, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET CONDENSATEUR
(JA) コンデンサの寿命推定方法、その寿命推定プログラム、情報処理装置およびコンデンサ
Abrégé
(EN)
The present invention include processings (a processing unit 8) for calculating an estimated heat generation temperature by using driving conditions (22, a storage unit 6) including at least driving timing information (18) and driving current value information (20), and temperature change characteristic information (24) about a capacitor, calculating state change information (28) about the capacitor after the passage of a reference time, and calculating a lifespan estimation value of the capacitor (a lifespan estimation result 30) by using the state change information. Accordingly, it is possible to estimate the lifespan of the capacitor corresponding to a change in a value of a driving current flowing through the capacitor, the applicability of the capacitor can be confirmed, or the safety of an apparatus using the capacitor becomes high.
(FR)
La présente invention comprend des traitements (unité de traitement 8) permettant de calculer une température de génération de chaleur estimée à l'aide de conditions d'attaque (22, unité de mémoire 6) comprenant au moins des informations de synchronisation d'attaque (18) et des informations de valeur de courant d'attaque (20), et des informations de caractéristique de changement de température (24) concernant un condensateur, de calculer des informations de changement d'état (28) concernant le condensateur après l'écoulement d'un temps de référence, et de calculer une valeur d'estimation de durée de vie du condensateur (résultat d'estimation de durée de vie 30) à l'aide des informations de changement d'état. Ainsi, il est possible d'estimer la durée de vie du condensateur correspondant à un changement d'une valeur d'un courant d'attaque circulant à travers le condensateur, l'applicabilité du condensateur peut être confirmée ou la sécurité d'un appareil utilisant le condensateur devient élevée.
(JA)
少なくとも駆動タイミング情報(18)および駆動電流値情報(20)を含む駆動条件(22、記憶部6)と、コンデンサの温度変化特性情報(24)を利用して推定発熱温度を算出し、推定発熱温度を利用して、基準時間経過後のコンデンサの状態変化情報(28)を算出し、状態変化情報を利用してコンデンサの寿命推定値(寿命推定結果30)を算出する処理(処理部8)を含む。これにより、コンデンサに流れる駆動電流値の変動に対応したコンデンサの寿命推定が可能となるとともに、コンデンサの適用性の確認やコンデンサを用いる機器の安全性が高められる。
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