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1. WO2020066432 - ÉLÉMENT D’IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ DE COMMANDE D'ÉLÉMENT D’IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE

Numéro de publication WO/2020/066432
Date de publication 02.04.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/033615
Date du dépôt international 28.08.2019
CIB
H04N 5/369 2011.01
HÉLECTRICITÉ
04TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
NTRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
5Détails des systèmes de télévision
30Transformation d'informations lumineuses ou analogues en informations électriques
335utilisant des capteurs d'images à l'état solide  
369architecture du capteur SSIS; circuits associés à cette dernière
CPC
H04N 5/369
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
5Details of television systems
30Transforming light or analogous information into electric information
335using solid-state image sensors [SSIS]
369SSIS architecture; Circuitry associated therewith
Déposants
  • ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 小川 晃司 OGAWA, Koji
Mandataires
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
Données relatives à la priorité
2018-18608628.09.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, CONTROL METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) ÉLÉMENT D’IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ DE COMMANDE D'ÉLÉMENT D’IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(JA) 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器
Abrégé
(EN)
This solid-state imaging element (11a) is provided with: light-receiving elements (402) which output electrical signals according to incident light; detection units (30) which each detect whether or not the amount of change in an electrical signal outputted from the corresponding light-receiving element exceeds a threshold and which each outputs a detection signal that indicates a result of the detection; a temperature measurement unit (51) for measuring temperature; and a setting unit (52) which sets a threshold on the basis of the temperature measured by the temperature measurement unit.
(FR)
L'invention concerne un élément d'imagerie à semi-conducteurs (11a) qui comporte : des éléments de réception de lumière (402) qui délivrent en sortie des signaux électriques selon la lumière incidente ; des unités de détection (30) qui détectent chacune si la quantité de changement dans un signal électrique délivré en sortie à partir de l'élément de réception de lumière correspondant dépasse ou ne dépasse pas un seuil et qui chacune délivre en sortie un signal de détection qui indique un résultat de la détection ; une unité de mesure de température (51) pour mesurer la température ; et une unité de réglage (52) qui règle un seuil sur la base de la température mesurée par l'unité de mesure de température.
(JA)
固体撮像素子(11a)は、入射光に応じた電気信号を出力する受光素子(402)と、受光素子から出力される電気信号の変化量が閾値を超えたか否かを検出し、検出による検出結果を示す検出信号を出力する検出部(30)と、温度を計測する温度計測部(51)と、温度計測部により計測された温度に基づき閾値を設定する設定部(52)と、を備える。
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