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1. WO2019222255 - SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'INSPECTION ASSISTÉE PAR ORDINATEUR

Numéro de publication WO/2019/222255
Date de publication 21.11.2019
N° de la demande internationale PCT/US2019/032276
Date du dépôt international 14.05.2019
CIB
G01C 15/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
CMESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
15Instruments de géodésie ou accessoires non prévus dans les groupes G01C1/-G01C13/119
CPC
G01B 11/022
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
022by means of tv-camera scanning
G01B 11/026
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
026by measuring distance between sensor and object
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
G02B 2027/0138
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
01Head-up displays
0101characterised by optical features
0138comprising image capture systems, e.g. camera
G02B 2027/014
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
01Head-up displays
0101characterised by optical features
014comprising information/image processing systems
G02B 27/017
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
01Head-up displays
017Head mounted
Déposants
  • SRI INTERNATIONAL [US]/[US]
Inventeurs
  • SALGIAN, Garbis
  • MATEL, Bogdan C.
  • OSKIPER, Taragay
  • SIZINTSEV, Mikhail
  • KUMAR, Rakesh
  • SAMARASEKERA, Supun
Mandataires
  • LINARDAKIS, Leonard P.
  • TABOADA, Alan
  • MOSER, JR., Raymond R.
Données relatives à la priorité
16/412,06714.05.2019US
62/670,98514.05.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) COMPUTER AIDED INSPECTION SYSTEM AND METHODS
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'INSPECTION ASSISTÉE PAR ORDINATEUR
Abrégé
(EN)
Computer aided inspection systems (CAIS) and method for inspection, error analysis and comparison of structures are presented herein. In some embodiments, a CAIS may include a SLAM system configured to determine real-world global localization information of a user in relation to a structure being inspected using information obtained from a first sensor package, a model alignment system configured to: use the determined global localization information to index into a corresponding location in a 3D computer model of the structure being inspected; and align observations and/or information obtained from the first sensor package to the local area of the model 3D computer model of the structure extracted; a second sensor package configured to obtain fine level measurements of the structure; and a model recognition system configured to compare the fine level measurements and information obtained about the structure from the second sensor package to the 3D computer model.
(FR)
L'invention concerne des systèmes d'inspection assistée par ordinateur (SIAC) et un procédé d'inspection, d'analyse d'erreur et de comparaison de structures. Dans certains modes de réalisation, un SIAC peut comprendre un système SLAM conçu pour déterminer des informations de localisation globale dans le monde réel d'un utilisateur par rapport à une structure inspectée en utilisant des informations obtenues de la part d'un premier ensemble de capteurs, un système d'alignement de modèle conçu pour : utiliser les informations de localisation globale déterminées pour indexer dans un emplacement correspondant dans un modèle informatique 3D de la structure inspectée ; et aligner des observations et/ou des informations obtenues du premier ensemble de capteurs sur la zone locale du modèle informatique 3D de la structure extraite ; un deuxième ensemble de capteurs conçus pour obtenir des mesures au niveau fin de la structure ; et un système de reconnaissance de modèle conçu pour comparer les mesures au niveau fin et les informations obtenues concernant la structure de la part du deuxième ensemble de capteurs au modèle informatique en 3D.
Également publié en tant que
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