(EN) Computer aided inspection systems (CAIS) and method for inspection, error analysis and comparison of structures are presented herein. In some embodiments, a CAIS may include a SLAM system configured to determine real-world global localization information of a user in relation to a structure being inspected using information obtained from a first sensor package, a model alignment system configured to: use the determined global localization information to index into a corresponding location in a 3D computer model of the structure being inspected; and align observations and/or information obtained from the first sensor package to the local area of the model 3D computer model of the structure extracted; a second sensor package configured to obtain fine level measurements of the structure; and a model recognition system configured to compare the fine level measurements and information obtained about the structure from the second sensor package to the 3D computer model.
(FR) L'invention concerne des systèmes d'inspection assistée par ordinateur (SIAC) et un procédé d'inspection, d'analyse d'erreur et de comparaison de structures. Dans certains modes de réalisation, un SIAC peut comprendre un système SLAM conçu pour déterminer des informations de localisation globale dans le monde réel d'un utilisateur par rapport à une structure inspectée en utilisant des informations obtenues de la part d'un premier ensemble de capteurs, un système d'alignement de modèle conçu pour : utiliser les informations de localisation globale déterminées pour indexer dans un emplacement correspondant dans un modèle informatique 3D de la structure inspectée ; et aligner des observations et/ou des informations obtenues du premier ensemble de capteurs sur la zone locale du modèle informatique 3D de la structure extraite ; un deuxième ensemble de capteurs conçus pour obtenir des mesures au niveau fin de la structure ; et un système de reconnaissance de modèle conçu pour comparer les mesures au niveau fin et les informations obtenues concernant la structure de la part du deuxième ensemble de capteurs au modèle informatique en 3D.