Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2019219638 - CARTE SONDE HAUTE PERFORMANCE À HAUTE FRÉQUENCE

Numéro de publication WO/2019/219638
Date de publication 21.11.2019
N° de la demande internationale PCT/EP2019/062276
Date du dépôt international 14.05.2019
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 12.03.2020
CIB
G01R 1/073 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
CPC
G01R 1/06772
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06772High frequency probes
G01R 1/07314
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
G01R 1/0735
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
0735arranged on a flexible frame or film
Déposants
  • TECHNOPROBE S.P.A. [IT]/[IT]
Inventeurs
  • VETTORI, Riccardo
Mandataires
  • FERRARI, Barbara
Données relatives à la priorité
10201800000544416.05.2018IT
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) HIGH-PERFORMANCE PROBE CARD IN HIGH-FREQUENCY
(FR) CARTE SONDE HAUTE PERFORMANCE À HAUTE FRÉQUENCE
Abrégé
(EN)
A probe card for a test equipment of electronic devices, comprises a support plate (23),a flexible membrane (24) adapted to carry high frequency signals between a device under test and the support plate (23), said flexible membrane (24) being connected to the support plate (23) through a peripheral zone (24b), a damping structure (21) arranged between the support plate (23) and the flexible membrane (24) and adapted to damp the abutment onto the device under test, as well as a plurality of micro contact probes (26) comprising a body (26') extending between a first end (26a) and a second end (26b), said second end (26b) being adapted to abut onto contact pads(27) of the device under test, wherein the damping structure (21) and the first ends (26a) of the micro contact probes(26) are in contact with opposite faces (Fa, Fb) of a same contact zone (24a) of the flexible membrane (24). Suitably, the flexible membrane (24) includes at least one weakening zone (24c) arranged between the contact zone (24a) and the peripheral zone (24b) and adjacent thereto, said weakening zone (24c) comprising at least one weakening element (28) adapted to mechanically weaken the flexible membrane (24) and to locally increase the deformability thereof.
(FR)
La présente invention concerne une carte sonde pour un équipement d'essai de dispositifs électroniques, comprenant une plaque de support (23), une membrane souple (24) conçue pour transporter des signaux haute fréquence entre un dispositif à l'essai et la plaque de support (23), ladite membrane souple (24) étant reliée à la plaque de support (23) à travers une zone périphérique (24b), une structure d'amortissement (21) disposée entre la plaque de support (23) et la membrane souple (24) et conçue pour amortir la butée sur le dispositif à l'essai, ainsi qu'une pluralité de microsondes de contact (26) comprenant un corps (26') s'étendant entre une première extrémité (26a) et une seconde extrémité (26b), ladite seconde extrémité (26b) étant conçue pour venir en butée sur des plots de contact (27) du dispositif à l'essai, la structure d'amortissement (21) et les premières extrémités (26a) des micro-sondes de contact (26) étant en contact avec des faces opposées (Fa, Fb) d'une même zone de contact (24a) de la membrane souple (24). Idéalement, la membrane souple (24) comprend au moins une zone d'affaiblissement (24c) disposée entre la zone de contact (24a) et la zone périphérique (24b) et adjacente à ces dernières, ladite zone d'affaiblissement (24c) comprenant au moins un élément d'affaiblissement (28) pouvant affaiblir mécaniquement la membrane souple (24) et augmenter localement sa déformabilité.
Également publié en tant que
TH2001006572
EP2019725944
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international