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1. WO2019205805 - DISPOSITIF DE DÉSORPTION ET D'IONISATION D'ÉCHANTILLON, ET SPECTROMÈTRE DE MASSE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE L'APPLIQUANT

Numéro de publication WO/2019/205805
Date de publication 31.10.2019
N° de la demande internationale PCT/CN2019/076662
Date du dépôt international 01.03.2019
CIB
H01J 49/14 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
10Sources d'ions; Canons à ions
14utilisant un bombardement de particules, p.ex. chambres d'ionisation
CPC
G01N 27/64
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
64using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
G01N 27/68
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
68using electric discharge to ionise a gas
H01J 49/0459
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
0459for solid samples
H01J 49/049
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
0468with means for heating or cooling the sample
049with means for applying heat to desorb the sample; Evaporation
H01J 49/14
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
14using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
H01J 49/145
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
14using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
145using chemical ionisation
Déposants
  • 岛津分析技术研发(上海)有限公司 SHIMADZU RESEARCH LABORATORY (SHANGHAI) CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 黄云清 HUANG, Yunqing
  • 孙文剑 SUN, Wenjian
Mandataires
  • 上海光华专利事务所(普通合伙) J.Z.M.C. PATENT AND TRADEMARK LAW OFFICE (GENERAL PARTNERSHIP)
Données relatives à la priorité
201810394496.327.04.2018CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) SAMPLE DESORPTION AND IONIZATION DEVICE, AND MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD APPLYING SAME
(FR) DISPOSITIF DE DÉSORPTION ET D'IONISATION D'ÉCHANTILLON, ET SPECTROMÈTRE DE MASSE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE L'APPLIQUANT
(ZH) 样本解吸及电离装置以及应用该装置的质谱仪及分析方法
Abrégé
(EN)
The present invention provides a sample desorption and ionization device, and a mass spectrometer and an analysis method. The device comprises: a heating desorption device, located in a first gas pressure region, and used for bearing and heating a sample, so that an analyte to be analyzed in the sample is desorbed from the sample under the effect of heating and then enters the first gas pressure region; a vacuum interface component, connecting the first gas pressure region and a second gas pressure region, and used for enabling the analyte to be analyzed to enter the second gas pressure region from the first gas pressure region under the driving of a gas flow; and a soft ionization source, used for converting gas molecules in the second gas pressure region into active gas molecules, so that the analyte to be analyzed that enters the second gas pressure region interacts with the active gas molecules to implement soft ionization. According to the present invention, the introduction efficiency of ions after ionization of the analyte in mass spectrometric analysis can be significantly improved and the applicable range of the analyte can be expanded.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de désorption et d'ionisation d'échantillon, et un spectromètre de masse et un procédé d'analyse. Le dispositif comprend : un dispositif de désorption de chauffage, situé dans une première région de pression de gaz, et utilisé pour supporter et chauffer un échantillon, de telle sorte qu'un analyte à analyser dans l'échantillon est désorbé de l'échantillon sous l'effet d'un chauffage puis entre dans la première région de pression de gaz; un composant d'interface sous vide, reliant la première région de pression de gaz et une seconde région de pression de gaz, et utilisé pour permettre à l'analyte d'être analysé pour entrer dans la seconde région de pression de gaz à partir de la première région de pression de gaz sous l'entraînement d'un écoulement de gaz; et une source d'ionisation douce, utilisée pour convertir des molécules de gaz dans la seconde région de pression de gaz en molécules de gaz actif, de telle sorte que l'analyte à analyser qui entre dans la seconde région de pression de gaz interagit avec les molécules de gaz actif pour mettre en œuvre une ionisation douce. Selon la présente invention, l'efficacité d'introduction d'ions après ionisation de l'analyte dans une analyse par spectrométrie de masse peut être considérablement améliorée et la plage applicable de l'analyte peut être étendue.
(ZH)
本发明提供样本解吸及电离装置以及质谱仪及分析方法。所述装置具有第一气压区及低于所述第一气压区的第二气压区;所述装置包括:加热解吸装置,位于所述第一气压区,用于承载样本并对所述样本进行加热,以使所述样本中的待分析物在加热作用下从所述样本中解吸出来并随之进入所述第一气压区;真空界面组件,连接所述第一气压区与所述第二气压区,用于使所述待分析物在气流带动下从所述第一气压区进入所述第二气压区;软电离源,用于将所述第二气压区的气体分子转变为活性气体分子,以使进入所述第二气压区的待分析物在与所述活性气体分子作用后实现软电离。本发明可显著提高直接质谱分析中分析物被电离后离子的引入效率及分析物的适用范围。
Également publié en tant que
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