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1. (WO2019067641) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'INSPECTION VISUELLE FONDÉS SUR LA RÉALITÉ AUGMENTÉE
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N° de publication : WO/2019/067641 N° de la demande internationale : PCT/US2018/052988
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 26.09.2018
CIB :
G06F 3/01 (2006.01) ,G06F 17/30 (2006.01) ,G06F 17/50 (2006.01) ,H04N 13/117 (2018.01) ,G01N 21/95 (2006.01) ,G01N 23/02 (2006.01) ,G01N 27/90 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
3
Dispositions d'entrée pour le transfert de données à traiter pour leur donner une forme utilisable par le calculateur; Dispositions de sortie pour le transfert de données de l'unité de traitement à l'unité de sortie, p.ex. dispositions d'interface
01
Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17
Equipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
30
Recherche documentaire; Structures de bases de données à cet effet
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17
Equipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
50
Conception assistée par ordinateur
[IPC code unknown for H04N 13/117]
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
95
caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
72
en recherchant des variables magnétiques
82
pour rechercher la présence des criques
90
en utilisant les courants de Foucault
Déposants :
AQUIFI, INC. [US/US]; 2225 E. Bayshore Rd., Ste. 110 Palo Alto, CA 94303, US
Inventeurs :
DAL MUTTO, Carlo; US
TRACHEWSKY, Jason; US
ZUCCARINO, Tony; US
Mandataire :
LEE, Shaun, P.; US
Données relatives à la priorité :
62/563,56026.09.2017US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR VISUAL INSPECTION BASED ON AUGMENTED REALITY
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'INSPECTION VISUELLE FONDÉS SUR LA RÉALITÉ AUGMENTÉE
Abrégé :
(EN) A system for visual inspection includes: a scanning system configured to capture images of an object and to compute a three-dimensional (3-D) model of the object based on the captured images; an inspection system configured to: compute a descriptor of the object based on the 3-D model of the object; retrieve metadata corresponding to the object based on the descriptor; and compute a plurality of inspection results based on the retrieved metadata and the 3-D model of the object; and a display device system including: a display; a processor; and a memory storing instructions that, when executed by the processor, cause the processor to: generate overlay data from the inspection results; and show the overlay data on the display, the overlay data being aligned with a view of the object through the display.
(FR) La présente invention concerne un système d'inspection visuelle comprenant : un système de balayage configuré pour capturer des images d'un objet et pour calculer un modèle tridimensionnel (3-D) de l'objet sur la base des images capturées; un système d'inspection configuré : pour calculer un descripteur de l'objet sur la base du modèle 3D de l'objet; pour récupérer des métadonnées correspondant à l'objet sur la base du descripteur; et pour calculer une pluralité de résultats d'inspection sur la base des métadonnées extraites et du modèle 3D de l'objet; et un système de dispositif d'affichage comprenant : un dispositif d'affichage; un processeur; et une mémoire stockant des instructions qui, lorsqu'elles sont exécutées par le processeur, amènent le processeur : à générer des données de superposition à partir des résultats d'inspection; et à afficher les données de superposition sur le dispositif d'affichage, les données de superposition étant alignées avec une vue de l'objet sur le dispositif d'affichage.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)