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1. (WO2019031048) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET PROGRAMME
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N° de publication : WO/2019/031048 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/022092
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 08.06.2018
CIB :
G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10
Recherche de particules individuelles
14
Recherche par des moyens électro-optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
Déposants :
ソニー株式会社 SONY CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南1丁目7番1号 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
Inventeurs :
吉岡 重篤 YOSHIOKA, Shigeatsu; JP
山根 健治 YAMANE, Kenji; JP
村田 澪 MURATA, Rei; JP
Mandataire :
亀谷 美明 KAMEYA, Yoshiaki; JP
金本 哲男 KANEMOTO, Tetsuo; JP
萩原 康司 HAGIWARA, Yasushi; JP
Données relatives à la priorité :
2017-15289408.08.2017JP
Titre (EN) INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING METHOD AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET PROGRAMME
(JA) 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
Abrégé :
(EN) [Problem] To provide an information processing device and an information processing method which are capable of easily calculating an error amount included in a measurement value. [Solution] Provided is an information processing device provided with: an extraction unit which extracts, from a database on the basis of a measurement condition, a variation of each parameter that affects a fluorescence intensity measured when a light ray is irradiated onto a particle; and a calculation unit which generates an equation that represents an error amount included in the fluorescence intensity on the basis of the extracted variation of each parameter.
(FR) [Problème] La présente invention vise à fournir un dispositif de traitement d'informations et un procédé de traitement d'informations qui permettent de calculer aisément une quantité d'erreur incluse dans une valeur de mesure. [Solution] La présente invention concerne un dispositif de traitement d'informations pourvu de : une unité d'extraction qui extrait, à partir d'une base de données sur la base d'une condition de mesure, une variation de chaque paramètre qui affecte une intensité de fluorescence mesurée lorsqu'un rayon lumineux est irradié sur une particule; et une unité de calcul qui génère une équation qui représente une quantité d'erreur incluse dans l'intensité de fluorescence sur la base de la variation extraite de chaque paramètre.
(JA) 【課題】測定値に含まれる誤差量を容易に算出することが可能な情報処理装置及び情報処理方法を提供する。 【解決手段】粒子に光線を照射した際に測定される蛍光の強度に影響するパラメータの各々のばらつきを、測定条件に基づいてデータベースから抽出する抽出部と、抽出された前記パラメータの各々のばらつきに基づいて前記蛍光の強度に含まれる誤差量を表す計算式を生成する演算部と、を備える、情報処理装置。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)