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1. (WO2019029038) PROCÉDÉ DE TEST D'UN COMPOSANT D'UN DISPOSITIF DE TRAITEMENT ÉLECTRONIQUE
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N° de publication : WO/2019/029038 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/111303
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 16.11.2017
CIB :
G06F 11/36 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
36
Prévention d'erreurs en effectuant des tests ou par débogage de logiciel
Déposants :
LAU, Gary, Q [CA/CN]; CN (UZ)
ECORENEW DMCC [AE/AE]; Unit No. 345, DMCC Business Centre Level No. 5, Jewellery & Gemplex Centre Dubai, AE
Inventeurs :
LAU, Gary, Q; CN
SMITH, Paul, Anthony; CN
Mandataire :
HENSEN INTELLECTUAL PROPERTY FIRM; 10H, Shangbu Building No. 68 Nanyuan Road, Futian Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Données relatives à la priorité :
15/671,42408.08.2017US
Titre (EN) A METHOD OF TESTING A COMPONENT OF AN ELECTRONIC PROCESSING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE TEST D'UN COMPOSANT D'UN DISPOSITIF DE TRAITEMENT ÉLECTRONIQUE
Abrégé :
(EN) The invention provides a method of assessing suitability of a component for assembly in an electronic processing device. A first step of the method comprises obtaining a component of an electronic processing device. This may be obtained from a disassembled electronic processing device. The method includes subjecting said component to a plurality of tests where at least two of said tests are of a different technical character to each other and assessing test data derived from each of said plurality of tests to determine to a selected or calculated degree of confidence whether or not the tested component is to be considered as a suitable component for assembly in an electronic processing device of a type to which the tested component belongs. The test data may be automatically assessed by a data processing system.
(FR) L'invention concerne un procédé d'évaluation de l'adéquation d'un composant à assembler dans un dispositif de traitement électronique. Une première étape du procédé comprend l'obtention d'un composant d'un dispositif de traitement électronique. Ceci peut être obtenu à partir d'un dispositif de traitement électronique démonté. Le procédé consiste à soumettre ledit composant à une pluralité de tests où au moins deux desdits tests sont d'un caractère technique différent l'un par rapport à l'autre et à évaluer des données de test dérivées de chacun de ladite pluralité de tests pour déterminer un degré de confiance sélectionné ou calculé si le composant testé doit être considéré comme un composant approprié pour l'assemblage dans un dispositif de traitement électronique d'un type auquel appartient le composant testé. Les données de test peuvent être automatiquement évaluées par un système de traitement de données.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)