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1. (WO2018221082) SPECTROPHOTOMÈTRE
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N° de publication : WO/2018/221082 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/016602
Date de publication : 06.12.2018 Date de dépôt international : 24.04.2018
CIB :
G01J 3/10 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
02
Parties constitutives
10
Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
Déposants :
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Inventeurs :
川崎 貴志 KAWASAKI Takashi; JP
藤井 秀彦 FUJII Hidehiko; JP
▲鶴▼谷 克敏 TSURUTANI Katsutoshi; JP
Mandataire :
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; JP
有田 貴弘 ARITA Takahiro; JP
Données relatives à la priorité :
2017-10917701.06.2017JP
Titre (EN) SPECTROPHOTOMETER
(FR) SPECTROPHOTOMÈTRE
(JA) 分光測色計
Abrégé :
(EN) The present invention allows a measurement position to be irradiated with observation light and allows the measurement position to be known easily, without providing a large space in a spectrophotometer. In this spectrophotometer, a slit is disposed at a position that is optically conjugated with the measurement position. Light from an object to be measured passes through the slit, advances in a measurement optical path, and undergoes wavelength dispersion by a wavelength dispersion element. At the time of measurement of an optical spectrum, an observation light source is retreated out of the measurement optical path. At the time of observation of the measurement position, the observation light source is inserted in the measurement optical path and emits observation light toward the slit. Alternately, light from the object to be measured passes through the slit and is diffracted by a diffraction grating. The observation light source is disposed on an optical path of the zeroth-order light. At the time of observation of the measurement position, the observation light source emits the observation light toward the diffraction grating.
(FR) La présente invention permet à une position de mesure d'être irradiée avec une lumière d'observation et permet de connaître facilement la position de mesure, sans fournir un espace important dans un spectrophotomètre. Dans le spectrophotomètre de l'invention, une fente est disposée à une position qui est optiquement conjuguée à la position de mesure. Une lumière provenant d'un objet à mesurer passe à travers la fente, avance dans un trajet optique de mesure et subit une dispersion de longueur d'onde par un élément de dispersion de longueur d'onde. Au moment de la mesure d'un spectre optique, une source de lumière d'observation est retraitée hors du trajet optique de mesure. Au moment de l'observation de la position de mesure, la source de lumière d'observation est insérée dans le trajet optique de mesure et émet une lumière d'observation vers la fente. En variante, la lumière provenant de l'objet à mesurer passe à travers la fente et est diffractée par un réseau de diffraction. La source de lumière d'observation est disposée sur un trajet optique de la lumière d'ordre zéro. Au moment de l'observation de la position de mesure, la source de lumière d'observation émet la lumière d'observation vers le réseau de diffraction.
(JA) 分光測色計の内部に大きな空間を設けることなく、被測定位置に観察光を照射できるようにし、被測定位置を容易に知ることができるようにする。分光測色計において、被測定位置と光学的に共役である位置にスリットが配置される。被測定物からの光が、スリットを通過し、測定光路を進み、波長分散素子に波長分散される。分光スペクトルの測定時に、観察光源が測定光路外に退避させられる。被測定位置の観察時に、観察光源が、測定光路内に挿入され、スリットに向けて観察光を発光する。又は、被測定物からの光が、スリットを通過し、回折格子に回折される。観察光源が0次光の光路上に配置される。被測定位置の観察時に、観察光源が回折格子に向けて観察光を発光する。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)