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1. (WO2018203562) MICROSCOPE À LAMPE À FENTE
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N° de publication : WO/2018/203562 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/017455
Date de publication : 08.11.2018 Date de dépôt international : 01.05.2018
CIB :
A61B 3/135 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
3
Appareils pour l'examen optique des yeux; appareils pour pour l'examen clinique des yeux
10
du type à mesure objective, c. à d. instruments pour l'examen des yeux indépendamment des perceptions ou des réactions du patient
13
Microscopes ophtalmiques
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Microscopes à lampe à fente
Déposants :
株式会社トプコン TOPCON CORPORATION [JP/JP]; 東京都板橋区蓮沼町75番1号 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580, JP
Inventeurs :
清水 仁 SHIMIZU Hitoshi; JP
Mandataire :
木村 高明 KIMURA Takaaki; JP
Données relatives à la priorité :
2017-09187602.05.2017JP
Titre (EN) SLIT LAMP MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À LAMPE À FENTE
(JA) スリットランプ顕微鏡
Abrégé :
(EN) [Problem] To provide a slit lamp microscope capable of improving test precision without burdening a subject. [Solution] A slit lamp microscope comprising: an illumination system that has a light source for outputting illumination light, and shines, upon a subject eye, observation light of limited area by passing the illumination light through a beam controlling part, the area of an opening of which can be altered; an observational system for observing observation light returning from the subject eye; and a control unit for controlling at least the operation of the illumination system; the microscope comprising a slit opening area detector for detecting the area of the opening; and the control unit controlling the intensity of the light source on the basis of the opening area detected by the opening area detector.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un microscope à lampe à fente capable d'améliorer la précision d'essai sans pénibilité pour un sujet. La solution selon l'invention porte sur un microscope à lampe à fente comprenant : un système d'éclairage qui comporte une source de lumière destinée à émettre une lumière d'éclairage, et éclaire, sur l'œil d'un sujet, une lumière d'observation de zone limitée, en faisant passer la lumière d'éclairage à travers une partie de commande de faisceau, dont la zone d'une ouverture peut être modifiée ; un système d'observation destiné à observer la lumière d'observation revenant de l'œil du sujet ; et une unité de commande destinée à commander au moins le fonctionnement du système d'éclairage ; le microscope comprenant un détecteur de zone d'ouverture de fente destiné à détecter la zone de l'ouverture ; et l'unité de commande commandant l'intensité de la source de lumière sur la base de la zone d'ouverture détectée par le détecteur de zone d'ouverture.
(JA) 【課題】 被検者に負担を与えることなく検査精度を向上させることができるスリットランプ顕微鏡を提供する。 【解決手段】 照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積を制限した観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少なくとも前記照明系の作動を制御する制御部とを備えたスリットランプ顕微鏡であって、 前記開口部の面積を検知するスリット開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御する。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)