Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018198702) DISPOSITIF DE MESURE DE CONTRAINTE, SYSTÈME DE MESURE DE CONTRAINTE, ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CONTRAINTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/198702 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/014514
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 05.04.2018
CIB :
G01L 1/00 (2006.01) ,G01N 25/20 (2006.01) ,G01N 25/72 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
1
Mesure des forces ou des contraintes, en général
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
25
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens thermiques
20
en recherchant la production de quantités de chaleur, c. à d. la calorimétrie, p.ex. en mesurant la chaleur spécifique, en mesurant la conductivité thermique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
25
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens thermiques
72
Recherche de la présence de criques
Déposants :
パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406207, JP
Inventeurs :
入江 庸介 IRIE Yousuke; --
Mandataire :
鎌田 健司 KAMATA Kenji; JP
前田 浩夫 MAEDA Hiroo; JP
Données relatives à la priorité :
2017-08758726.04.2017JP
Titre (EN) STRESS MEASUREMENT DEVICE, STRESS MEASUREMENT SYSTEM, AND STRESS MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CONTRAINTE, SYSTÈME DE MESURE DE CONTRAINTE, ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CONTRAINTE
(JA) 応力測定装置、応力測定システム及び応力測定方法
Abrégé :
(EN) The stress measurement device according to the present invention is provided with a first acquiring unit for acquiring heat data including information indicating the temperature of a measurement region of a measurement object, a second acquiring unit for acquiring data related to stress occurring in a single region within the measurement region, and a control unit for calculating the stress occurring in the measurement region of the measurement object from the heat data and the data relating to stress. The control unit calculates first waveform data on the basis of a temporal variation in the heat data for each of the single region within the measurement region and another region other than the single region, and calculates second waveform data on the basis of a temporal variation in the data relating to stress. The control unit subtracts the second waveform data from the first waveform data for the single region within the measurement region and calculates disturbance data, and subtracts the disturbance data from the first waveform data for the other region within the measurement region and thereby calculates stress data indicating stress occurring in the other region.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure de contrainte qui comporte une première unité d'acquisition destinée à acquérir des données de chaleur dont des informations indiquant la température d'une région de mesure d'un objet de mesure, une seconde unité d'acquisition destinée à acquérir des données relatives à une contrainte se produisant dans une région unique au sein de la région de mesure, et une unité de commande destinée à calculer la contrainte se produisant dans la région de mesure de l'objet de mesure à partir des données de chaleur et des données relatives à la contrainte. L'unité de commande calcule des premières données de forme d'onde sur la base d'une variation temporelle dans les données de chaleur pour chaque région unique au sein de la région de mesure et d'une autre région, autre que la région unique, et calcule des secondes données de forme d'onde sur la base d'une variation temporelle dans les données relatives à la contrainte. L'unité de commande soustrait les secondes données de forme d'onde des premières données de forme d'onde pour la région unique au sein de la région de mesure et calcule des données de perturbation, et soustrait les données de perturbation des premières données de forme d'onde pour l'autre région au sein de la région de mesure et calcule ainsi des données de contrainte indiquant une contrainte se produisant dans l'autre région.
(JA) 応力測定装置は、測定対象物の測定領域の温度を示す情報を含む熱データを取得する第1の取得部と、測定領域内の一の領域に発生する応力に関係するデータを取得する第2の取得部と、熱データと応力に関係するデータとから測定対象物の測定領域に発生する応力を求める制御部と、を備える。制御部は、測定領域内の一の領域及び一の領域以外の他の領域のそれぞれについて、熱データの時間的変化に基づき第1の波形データを求め、応力に関係するデータの時間的変化に基づき第2の波形データを求める。制御部は、測定領域内の一の領域についての第1の波形データから第2の波形データを減算して外乱データを求め、外乱データを、測定領域内の他の領域についての第1の波形データから減算することにより、他の領域に発生する応力を示す応力データを求める。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)