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1. (WO2018197723) SYSTÈME DE TDLAS À LONGUEURS D'ONDE MULTIPLES COMPACT
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N° de publication : WO/2018/197723 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/061019
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 30.04.2018
CIB :
G01N 21/39 (2006.01) ,G01N 21/61 (2006.01) ,G01M 3/38 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31
en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
39
en utilisant des lasers à longueur d'onde réglable
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
59
Transmissivité
61
Analyseurs de gaz non dispersifs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
3
Examen de l'étanchéité des structures ou ouvrages vis-à-vis d'un fluide
38
par utilisation de la lumière
Déposants :
GASPOROX AB [SE/SE]; Maskinvägen 1 227 30 Lund, SE
Inventeurs :
LEWANDER XU, Märta; SE
LUNDIN, Patrik; SE
SWARTLING, Johannes; SE
Mandataire :
KIPA AB; PO Box 1065 251 10 Helsingborg, SE
Données relatives à la priorité :
1750515-728.04.2017SE
Titre (EN) COMPACT MULTI-WAVELENGTH TDLAS SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TDLAS À LONGUEURS D'ONDE MULTIPLES COMPACT
Abrégé :
(EN) A compact apparatus for detecting multiple gases, e. g., in a closed container, is disclosed. The apparatus comprises a multi-wavelength laser module (4) and a multi-wavelength detector (1), the detector comprising a stack of at least two material layers (2, 3) arranged along the same optical axis, wherein each layer is designed to detect a specific wavelength range different from the wavelength ranges detected by the other layers. The laser module may comprise at least two laser sources (5, 6) configured to emit different wavelengths, said laser sources being positioned close to each other so as to enable overlapping laser beam paths (7). The laser sources may be tunable diode laser or may be made of different laser chips arranged in a same laser housing. The apparatus may be configured as a TDLAS apparatus.
(FR) L'invention concerne un appareil compact destiné à détecter de multiples gaz, par exemple, dans un récipient fermé. L'appareil comprend un module laser à longueurs d'onde multiples (4) et un détecteur à longueurs d'onde multiples (1), le détecteur comprenant un empilement d'au moins deux couches de matériau (2, 3) disposées le long du même axe optique, chaque couche étant conçue pour détecter une plage de longueurs d'onde spécifique, différente des plages de longueurs d'onde détectées par les autres couches. Le module laser peut comprendre au moins deux sources laser (5, 6) conçues pour émettre des longueurs d'onde différentes, lesdites sources laser étant positionnées à proximité les unes des autres de façon à permettre le chevauchement des trajets de faisceau laser. Les sources laser peuvent être un laser à diode accordable ou peuvent être constituées de différentes puces laser disposées dans un même boîtier laser. L'appareil peut être conçu sous la forme d'un appareil TDLAS.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)