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1. WO2018197599 - PROCEDE DE CARACTERISATION SPATIO-SPECTRALE D'UNE SOURCE LASER IMPULSIONNELLE POLYCHROMATIQUE

Numéro de publication WO/2018/197599
Date de publication 01.11.2018
N° de la demande internationale PCT/EP2018/060679
Date du dépôt international 26.04.2018
CIB
G01J 9/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
9Mesure du déphasage des rayons lumineux; Recherche du degré de cohérence; Mesure de la longueur d'onde des rayons lumineux
02par des méthodes interférométriques
G01J 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
11Mesure des caractéristiques d'impulsions lumineuses individuelles ou de trains d'impulsions lumineuses
CPC
G01J 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
11Measuring the characteristics of individual optical pulses or of optical pulse trains
G01J 2001/4261
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1Photometry, e.g. photographic exposure meter
42using electric radiation detectors
4257applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
4261Scan through beam in order to obtain a cross-sectional profile of the beam
G01J 9/0215
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
9Measuring optical phase difference
02by interferometric methods
0215by shearing interferometric methods
Déposants
  • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES [FR]/[FR]
Inventeurs
  • QUERE, Fabien
  • BOROT, Antonin
Mandataires
  • LEBKIRI, Alexandre
Données relatives à la priorité
175367227.04.2017FR
Langue de publication français (FR)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR SPATIO-SPECTRAL CHARACTERIZATION OF A POLYCHROMATIC PULSED LASER SOURCE
(FR) PROCEDE DE CARACTERISATION SPATIO-SPECTRALE D'UNE SOURCE LASER IMPULSIONNELLE POLYCHROMATIQUE
Abrégé
(EN)
An aspect of the invention concerns a method for spatio-spectral characterization of a beam from a polychromatic pulsed laser source, comprising, for at least the first and second beam planes, the following steps: - imaging the beam plane using an imaging system; - creating first and second replicas of the beam using first and second arms of an amplitude division interferometer; - recombining the first and second replicas of the beam on a camera of the imaging system, so as to obtain an image in two spatial dimensions having spatial interference patterns; - measuring this image according to a time τ between the first and second replicas in order to obtain a temporal interferogram at each spatial point of the image, the set of temporal interferograms forming a spatio-temporal interferogram; - calculating the 1D Fourier transform of each temporal interferogram or the 3D Fourier transform of the spatio-temporal interferogram, said Fourier transform comprising a central frequency peak and two frequency side peaks; - filtering the Fourier transform so as to conserve only one of the two frequency side peaks; the method comprising, for each frequency of the polychromatic pulsed laser source, a step of reconstructing the frequency-resolved spatial phase profile using a first frequency-resolved spatial amplitude profile obtained for the first beam plane and a second frequency-resolved spatial amplitude profile obtained for the second beam plane.
(FR)
Un aspect de l'invention concerne un procédé de caractérisation spatio-spectrale d'un faisceau d'une source laser impulsionnelle polychromatique, comportant, pour au moins des premier et deuxième plans du faisceau, les étapes suivantes : - imager le plan du faisceau au moyen d'un système imageur; - créer des première et deuxième répliques du faisceau au moyen de premier et deuxième bras d'un interféromètre à division d'amplitude; - recombiner les première et deuxième répliques du faisceau sur une caméra du système imageur, de manière à obtenir une image en deux dimensions spatiales ayant des motifs d'interférences spatiales; - mesurer cette image en fonction d'un délai τ entre les première et deuxième répliques pour l'obtention d'un interférogramme temporel en chaque point spatial de l'image, l'ensemble des interférogrammes temporels formant un interférogramme spatio-temporel; - calculer la transformée de Fourier 1D de chaque interférogramme temporel ou la transformée de Fourier 3D de l'interférogramme spatio- temporel, ladite transformée de Fourier comportant un pic fréquentiel central et deux pics fréquentiels latéraux; - filtrer ladite transformée de Fourier de manière à ne conserver que l'un des deux pics fréquentiels latéraux; le procédé comportant, pour chaque fréquence de la source laser impulsionnelle polychromatique, une étape de reconstruction du profil spatial de phase résolu en fréquence à partir d'un premier profil spatial d'amplitude résolu en fréquence obtenu pour le premier plan du faisceau et d'un deuxième profil spatial d'amplitude résolu en fréquence obtenu pour le deuxième plan du faisceau.
Également publié en tant que
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