Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2018163890) DISPOSITIF D'INFÉRENCE DE FACTEUR, SYSTÈME D'INFÉRENCE DE FACTEUR ET PROCÉDÉ D'INFÉRENCE DE FACTEUR

Pub. No.:    WO/2018/163890    International Application No.:    PCT/JP2018/007022
Publication Date: Fri Sep 14 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Feb 27 00:59:59 CET 2018
IPC: G06N 5/04
Applicants: OMRON CORPORATION
オムロン株式会社
Inventors: MIYATA, Kiichiro
宮田 喜一郎
ANDO, Tanichi
安藤 丹一
MIYAURA, Hiroyuki
宮浦 宏之
Title: DISPOSITIF D'INFÉRENCE DE FACTEUR, SYSTÈME D'INFÉRENCE DE FACTEUR ET PROCÉDÉ D'INFÉRENCE DE FACTEUR
Abstract:
L'invention concerne, selon un aspect, un dispositif d'inférence de facteur, lequel : accepte des informations concernant des sujets; extrait des informations d'état à partir des informations acceptées; identifie un état prescrit pour un premier sujet parmi les sujets; reçoit une entrée des informations d'état extraites qui sont des informations d'état correspondant à l'état prescrit; classifie l'état prescrit; extrait des informations de situation à partir des informations acceptées; identifie des situations qui ont conduit à l'état prescrit; reçoit une entrée d'informations de situation qui ont été extraites par une unité d'extraction d'informations de situation et qui sont associées aux situations identifiées; et classifie les situations identifiées. Ensuite, sur la base du résultat de la classification de l'état prescrit et du résultat de la classification des situations identifiées, le dispositif d'inférence de facteur infère la situation qui constitue un facteur qui a conduit à l'état prescrit.