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1. (WO2018163782) APPAREIL D’IMAGERIE RADIOLOGIQUE
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N° de publication : WO/2018/163782 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/005791
Date de publication : 13.09.2018 Date de dépôt international : 19.02.2018
CIB :
A61B 6/03 (2006.01) ,G01T 1/17 (2006.01) ,G01T 1/24 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6
Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
02
Dispositifs pour établir un diagnostic dans des plans différents successifs; Diagnostic stéréoscopique utilisant des radiations
03
Tomographes associés à un ordinateur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
17
Dispositions de circuits non adaptés à un type particulier de détecteur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
24
avec des détecteurs à semi-conducteurs
Déposants :
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventeurs :
小野内 雅文 ONOUCHI, Masafumi; JP
Mandataire :
特許業務法人 山王坂特許事務所 SANNOZAKA PATENT LAW FIRM; 神奈川県横浜市神奈川区鶴屋町2丁目26番地2 第4安田ビル9階 4th Yasuda Building 9F, 26-2, Tsuruyacho 2-chome, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2210835, JP
Données relatives à la priorité :
2017-04286507.03.2017JP
Titre (EN) RADIATION IMAGING APPARATUS
(FR) APPAREIL D’IMAGERIE RADIOLOGIQUE
(JA) 放射線撮像装置
Abrégé :
(EN) Provided is a radiation imaging apparatus having a photon-counting detector such that variations in count rate performance due to self-heating of a photon-counting circuit are suppressed and photon-detecting accuracy is improved. The photon-counting detector includes: a semiconductor layer (21) which receives photons of radiation and generates a charge; a photon-counting circuit (35) which reads out a current from a pixel electrode formed on one side of the semiconductor layer (21); and a heat generation compensating circuit (25) which controls the heat generation by the photon-counting circuit (35) according to the count rate of the photon-counting circuit (35). The heat generation compensating circuit (25) operates when the count rate is low and carries out control such that the amount of heat released by the photon-counting circuit (35) when the count rate is low is substantially the same as the amount of heat released by the photon-counting circuit (35) when the count rate is high.
(FR) L'invention concerne un appareil d'imagerie radiologique comprenant un détecteur de comptage de photons pour que les variations de performance de taux de comptage dues à l'auto-échauffement d'un circuit de comptage de photons soient supprimées et que la précision de détection de photons soit améliorée. Le détecteur de comptage de photons comprend : une couche semi-conductrice (21) qui reçoit des photons de rayonnement et génère une charge ; un circuit de comptage de photons (35) qui lit un courant provenant d'une électrode de pixel formée sur un côté de la couche semi-conductrice (21) ; et un circuit de compensation de génération de chaleur (25) qui régule la génération de chaleur par le circuit de comptage de photons (35) en fonction du taux de comptage du circuit de comptage de photons (35). Le circuit de compensation de génération de chaleur (25) est activé quand le taux de comptage est bas et opère une régulation de façon que la quantité de chaleur libérée par le circuit de comptage de photons (35) quand le taux de comptage est bas soit sensiblement identique à la quantité de chaleur libérée par le circuit de comptage de photons (35) quand le taux de comptage est élevé.
(JA) 光子計数型検出器を備えた放射線撮像装置において、光子計数回路の自己発熱による計数率特性の変動を抑制し、光子検出精度を向上させる。 光子計数型検出器は、放射線の光子を受けて電荷を発生する半導体層(21)と、該半導体層(21)の一方の面に形成された画素電極から電流を読み出す光子計数回路(35)と、該光子計数回路(35)の計数率に応じて光子計数回路(35)の発熱量を制御する発熱量補償回路(25)とを備える。発熱量補償回路(25)は、計数率が低い時に動作し、低計数率時に光子計数回路(35)が発する熱量が、高計数率時に光子計数回路(35)が発する熱量と略同一となるように制御する。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)