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1. (WO2018143092) DISPOSITIF DE MESURE
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N° de publication : WO/2018/143092 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/002510
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 26.01.2018
CIB :
G01S 7/481 (2006.01) ,G01C 3/06 (2006.01) ,G02B 26/10 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
7
Détails des systèmes correspondant aux groupes G01S13/, G01S15/, G01S17/135
48
de systèmes selon le groupe G01S17/56
481
Caractéristiques de structure, p.ex. agencements d'éléments optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
3
Mesure des distances dans la ligne de visée; Télémètres optiques
02
Détails
06
Utilisation de moyens électriques pour obtenir une indication finale
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26
Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte, modulation
08
pour commander la direction de la lumière
10
Systèmes de balayage
Déposants :
パイオニア株式会社 PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 東京都文京区本駒込二丁目28番8号 28-8, Honkomagome 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021, JP
Inventeurs :
棚橋 祥夫 TANAHASHI, Yasuo; JP
Mandataire :
中村 聡延 NAKAMURA, Toshinobu; JP
Données relatives à la priorité :
2017-01508131.01.2017JP
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 計測装置
Abrégé :
(EN) A measurement device 100 has a MEMS mirror 4 for radiating projection light L1 while changing the radiating direction thereof, a light-receiving part 3 for receiving return light L2 reflected by a measurement object 10 included on a surface scanned by the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4, and an optical member 5 for reflecting the projection light L1 and the return light L2. Here, the optical member 5 reflects the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4 in a second period so that a region (first region) of the measurement object 10 irradiated by the projection light L1 in a first period within a first cycle and a region (second region) of the measurement object 10 irradiated by the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4 in a second period at least partially overlap.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure (100) possédant un miroir MEMS (4) permettant d'émettre le rayonnement d'une lumière de projection (L1) tout en changeant la direction de rayonnement de cette dernière, une partie réception de lumière (3) permettant de recevoir une lumière de retour (L2) réfléchie par un objet de mesure (10) inclus sur une surface balayée par la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) et un élément optique (5) permettant de réfléchir la lumière de projection (L1) et la lumière de retour (L2). Ici, l'élément optique (5) réfléchit la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) dans une seconde période de sorte qu'une zone (première zone) de l'objet de mesure (10) exposée à la lumière de projection (L1) dans une première période à l'intérieur d'un premier cycle et qu'une zone (seconde zone) de l'objet de mesure (10) exposée à la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) dans une seconde période se chevauchent au moins partiellement.
(JA) 計測装置100は、照射方向を変えながら投射光L1を照射するMEMSミラー4と、MEMSミラー4によって照射された投射光L1による走査面に含まれる計測対象物10によって反射された戻り光L2を受光する受光部3と、投射光L1及び戻り光L2を反射する光学部材5とを有する。ここで、光学部材5は、1周期内における第1期間に投射光L1が照射される計測対象物10の領域(第1領域)と、第2期間にMEMSミラー4によって照射された投射光L1が照射される計測対象物10の領域(第2領域)との少なくとも一部が重なるように、第2期間にMEMSミラー4によって照射された投射光L1を反射する。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)