Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018142459) DISPOSITIF CIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/142459 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/003396
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 31.01.2017
CIB :
G21K 5/08 (2006.01) ,H05H 6/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
21
PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
K
TECHNIQUES NON PRÉVUES AILLEURS POUR MANIPULER DES PARTICULES OU DES RAYONNEMENTS IONISANTS; DISPOSITIFS D'IRRADIATION; MICROSCOPES À RAYONS GAMMA OU À RAYONS X
5
Dispositifs d'irradiation
08
Supports pour cibles ou pour objets à irradier
H ÉLECTRICITÉ
05
TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
H
TECHNIQUE DU PLASMA; PRODUCTION DE PARTICULES ÉLECTRIQUEMENT CHARGÉES ACCÉLÉRÉES OU DE NEUTRONS; PRODUCTION OU ACCÉLÉRATION DE FAISCEAUX MOLÉCULAIRES OU ATOMIQUES NEUTRES
6
Cibles pour la production de réactions nucléaires
Déposants :
住友重機械工業株式会社 SUMITOMO HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 東京都品川区大崎二丁目1番1号 1-1, Osaki 2-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1416025, JP
Inventeurs :
森 雅史 MORI Masafumi; JP
菊地 雄司 KIKUCHI Yuuji; JP
Mandataire :
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柳 康樹 YANAGI Yasuki; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TARGET DEVICE
(FR) DISPOSITIF CIBLE
(JA) ターゲット装置
Abrégé :
(EN) Provided is a target device comprising: a plurality of targets; an emission unit for emitting a charged particle beam to the targets; a switching unit for switching the target onto which the charged particle beams from the emission unit are emitted; and a cooling unit for cooling the targets. The cooling unit is disposed at a position which is not on the extending axis of the charged particle beam from the emission unit.
(FR) La présente invention concerne un dispositif cible comprenant : une pluralité de cibles ; une unité d'émission pour émettre un faisceau de particules chargées vers les cibles ; une unité de commutation pour commuter la cible sur laquelle les faisceaux de particules chargées provenant de l'unité d'émission sont émis ; et une unité de refroidissement pour refroidir les cibles. L'unité de refroidissement est disposée à une position ne se trouvant pas sur l'axe d'extension du faisceau de particules chargées à partir de l'unité d'émission.
(JA) ターゲット装置は、複数のターゲットと、ターゲットへ荷電粒子線を照射する照射部と、照射部からの荷電粒子線が照射されるターゲットを切り替える切替部と、ターゲットを冷却する冷却部と、を備え、冷却部は、照射部からの荷電粒子線の延伸軸上とは異なる位置に配置されている。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)