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1. (WO2018100256) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION ET D'ÉVALUATION D'UNE VARIATION D'ÉPAISSEUR D'UNE PIÈCE.
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N° de publication : WO/2018/100256 N° de la demande internationale : PCT/FR2017/000222
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 28.11.2017
CIB :
G01B 11/06 (2006.01) ,G01B 11/12 (2006.01) ,G01B 11/22 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06
pour mesurer l'épaisseur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
08
pour mesurer des diamètres
12
des diamètres intérieurs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
22
pour mesurer la profondeur
Déposants :
ArianeGroup SAS [FR/FR]; Tour Cristal 7-1 1 Quai André Citroën 75015 Paris, FR
Inventeurs :
BAILET Gilles; FR
Mandataire :
HAUER Bernard; Gevers & Ores 41, avenue de Friedland 75008 Paris-france, FR
Données relatives à la priorité :
160171302.12.2016FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING AND ASSESSING A THICKNESS VARIATION OF A WORKPIECE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION ET D'ÉVALUATION D'UNE VARIATION D'ÉPAISSEUR D'UNE PIÈCE.
Abrégé :
(EN) The invention relates to a device (1) which includes a measurement through-channel (3), made in the workpiece (2), at least one measurement unit (4) configured to measure at least one light intensity at the outlet of the measurement channel (3), the measured light intensity depending on a viewing angle (a1) of visible light (R) penetrating into the measurement channel (2), said viewing angle (a1) depending on the length (L1) of the measurement through-channel (3) and thus on the thickness (E1) of the workpiece (2), a calculation unit (5) for calculating the difference between said measured light intensity and a reference light intensity, and a processing unit (7) configured to detect and/or assess a variation of the thickness of the workpiece (2) from this difference.
(FR) - Le dispositif (1) comporte un canal de mesure (3) traversant, pratiqué dans la pièce (2), au moins une unité de mesure (4) configurée pour mesurer au moins une intensité lumineuse en sortie du canal de mesure (3), l'intensité lumineuse mesurée dépendant d'un angle de vue (a1) d'un rayonnement lumineux (R) pénétrant dans le canal de mesure (2), ledit l'angle de vue (a1 ) dépendant de la longueur (L1) du canal de mesure (3) traversant et donc de l'épaisseur (E1) de la pièce (2), une unité de calcul (5) pour calculer la différence entre ladite intensité lumineuse mesurée et une intensité lumineuse de référence, et une unité de traitement (7) configurée pour détecter et/ou pour évaluer une variation de l'épaisseur de la pièce (2) à partir de cette différence.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)