Mobile |
Deutsch |
English |
Español |
日本語 |
한국어 |
Português |
Русский |
中文 |
العربية |
PATENTSCOPE
Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Options
Recherche
Résultats
Interface
Office
Traduction
Langue d'interrogation
Bulgare
Laotien
Roumain
allemand
anglais
arabe
chinois
coréen
danois
espagnol
estonien
français
hébreu
indonésien
italien
japonais
polonais
portugais
russe
suédois
thaï
toutes
vietnamien
Stemming/Racinisation
Trier par:
Pertinence
Date de pub. antichronologique
Date de pub. chronologique
Date de demande antichronologique
Date de demande chronologique
Nombre de réponses par page
10
50
100
200
Langue pour les résultats
Langue d'interrogation
anglais
espagnol
coréen
vietnamien
hébreu
portugais
français
allemand
japonais
russe
chinois
italien
polonais
danois
suédois
arabe
estonien
indonésien
thaï
Bulgare
Laotien
Roumain
Champs affichés
Numéro de la demande
Date de publication
Abrégé
Nom du déposant
Classification internationale
Image
Nom de l'inventeur
Tableau/Graphique
Tableau
Graphique
Regroupement
*
Aucun
Offices of NPEs
Code CIB
Déposants
Inventeurs
Dates de dépôt
Dates de publication
Pays
Nombre d'entrées par groupe
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Download Fields
NPEs
Page de recherche par défaut
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Champ de recherche par défaut
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Langue de l'interface
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
Interface multi-fenêtres
Bulle d'aide
Bulles d'aide pour la CIB
Instant Help
Expanded Query
Office:
Tous
Tous
PCT
Afrique
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO)
Égypte
Kenya
Maroc
Tunisie
Afrique du Sud
Amérique
États-Unis d'Amérique
Canada
LATIPAT
Argentine
Brésil
Chili
Colombie
Costa Rica
Cuba
Rép. dominicaine
Équateur
El Salvador
Guatemala
Honduras
Mexique
Nicaragua
Panama
Pérou
Uruguay
Asie-Europe
Australie
Bahreïn
Chine
Danemark
Estonie
Office eurasien des brevets (OEAB)
Office européen des brevets (OEB
France
Allemagne
Allemagne (données RDA)
Israël
Japon
Jordanie
Portugal
Fédération de Russie
Fédération de Russie (données URSS)
Arabie saoudite
Émirats arabes unis
Espagne
Rép. de Corée
Inde
Royaume-Uni
Géorgie
Bulgarie
Italie
Roumanie
République démocratique populaire lao
Asean
Singapour
Viet Nam
Indonésie
Cambodge
Malaisie
Brunei Darussalam
Philippines
Thaïlande
WIPO translate (Wipo internal translation tool)
Recherche
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Expansion de requête multilingue
Composés chimiques (connexion requise)
Options de navigation
Recherche par semaine (PCT)
Archive Gazette
Entrées de Phase National
Téléchargement intégral
Téléchargement incrémental (7 derniers jours)
Listages de séquences
L’inventaire vert selon la CIB
Portail d'accès aux registres de brevets nationaux
Traduction
WIPO Translate
WIPO Pearl
Quoi de neuf
Quoi de neuf sur PATENTSCOPE
Connexion
ui-button
Connexion
Créer un compte
Options
Options
Aide
ui-button
Comment rechercher
Guide d'utilisation PATENTSCOPE
Guide d'utilisation: Recherche multilingue
User Guide: ChemSearch
Syntaxe de recherche
Définition des champs
Code pays
Données disponibles
Demandes PCT
Entrée en phase nationale PCT
Collections nationales
Global Dossier public
FAQ
Observations et contact
Codes INID
Codes de type de document
Tutoriels
À propos
Aperçu
Avertissement & Conditions d'utilisation
Clause de non-responsabilité
Accueil
Services
PATENTSCOPE
Traduction automatique
Wipo Translate
arabe
allemand
anglais
espagnol
français
japonais
coréen
portugais
russe
chinois
Google Translate
Bing/Microsoft Translate
Baidu Translate
arabe
anglais
français
allemand
espagnol
portugais
russe
coréen
japonais
chinois
...
Italian
Thai
Cantonese
Classical Chinese
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter à
Observations et contact
1. (WO2018065183) INSTALLATION DE LITHOGRAPHIE PAR PROJECTION ET PROCÉDÉ POUR RÉDUIRE LES DÉFORMATIONS DES COMPOSANTS DU DISPOSITIF DE LITHOGRAPHIE PAR PROJECTION DUES AUX ACCÉLÉRATIONS DYNAMIQUES
Données bibliographiques PCT
Description
Revendications
Dessins
Phase nationale
Notifications
Documents
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international
Formuler une observation
Lien permanent
Lien permanent
Ajouter aux favoris
N° de publication :
WO/2018/065183
N° de la demande internationale :
PCT/EP2017/073109
Date de publication :
12.04.2018
Date de dépôt international :
14.09.2017
CIB :
G03F 7/20
(2006.01) ,
G02B 7/182
(2006.01)
G
PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
7
Production par voie photomécanique, p.ex. photolithographique, de surfaces texturées, p.ex. surfaces imprimées; Matériaux à cet effet, p.ex. comportant des photoréserves; Appareillages spécialement adaptés à cet effet
20
Exposition; Appareillages à cet effet
G
PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
7
Montures, moyens de réglage ou raccords étanches à la lumière pour éléments optiques
18
pour prismes; pour miroirs
182
pour miroirs
Déposants :
CARL ZEISS SMT GMBH
[DE/DE]; Rudolf-Eber-Strasse 2 73447 Oberkochen, DE
Inventeurs :
HEMBACHER, Stefan
; DE
LOOPSTRA, Erik
; DE
KUGLER, Jens
; DE
GEUPPERT, Bernhard
; DE
Mandataire :
RAUNECKER, Klaus, Peter
; DE
Données relatives à la priorité :
10 2016 219 330.9
06.10.2016
DE
Titre
(EN)
PROJECTION EXPOSURE SYSTEM AND METHOD FOR REDUCING DEFORMATIONS OF COMPONENTS OF THE PROJECTION EXPOSURE SYSTEM CAUSED BY DYNAMIC ACCELERATIONS
(FR)
INSTALLATION DE LITHOGRAPHIE PAR PROJECTION ET PROCÉDÉ POUR RÉDUIRE LES DÉFORMATIONS DES COMPOSANTS DU DISPOSITIF DE LITHOGRAPHIE PAR PROJECTION DUES AUX ACCÉLÉRATIONS DYNAMIQUES
(DE)
PROJEKTIONSBELICHTUNGSANLAGE UND VERFAHREN ZUR VERRINGERUNG AUS DYNAMISCHEN BESCHLEUNIGUNGEN HERRÜHRENDEN DEFORMATIONEN VON KOMPONENTEN DER PROJEKTIONSBELICHTUNGSANLAGE
Abrégé :
(EN)
The invention relates to a projection exposure system (1) for semiconductor lithography, comprising at least one component (22) and a support device having at least one support actuator (23) which acts on at least one support point (27) of the component (22) in such a way that deformations of the component (22) are reduced, wherein the support device has a control unit (28) for actuating the at least one support actuator (23), wherein the control unit (28) is configured to actuate the support actuator (23) during a dynamic acceleration acting on the component (22). The invention also relates to a method for reducing deformations of components of a projection exposure system for semiconductor lithography caused by dynamic accelerations.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de lithographie par projection (1) pour la lithographie appliquée aux semi-conducteurs, comprenant au moins un composant (22), un dispositif de support pourvu d'au moins un actionneur de support (23) qui agit sur au moins un point d'appui (27) du composant (22) de manière à réduire les déformations du composant (22), le dispositif de support comprenant une unité de commande (28) qui commande ledit au moins un actionneur de support (23), le dispositif de commande (28) étant configuré pour commander l'actionneur de support (23) en réponse à une accélération dynamique agissant sur le composant (22). L'invention concerne en outre un procédé pour réduire les déformations de composants d'une installation de lithographie par projection pour semi-conducteurs qui sont dues à des accélérations dynamiques.
(DE)
Die Erfindung betrifft eine Projektionsbelichtungsanlage (1) für die Halbleiterlithographie, umfassend - mindestens eine Komponente (22), - eine Abstützvorrichtung mit mindestens einem Stützaktuator (23), welcher derart auf mindestens eine Stützstelle (27) der Komponente (22) einwirkt, dass Deformationen der Komponente (22) verringert werden, wobei die Abstützvorrichtung eine Steuereinheit (28) zur Ansteuerung des mindestens einen Stützaktuators (23) umfasst, wobei die Steuereinheit (28) dazu eingerichtet ist, den Stützaktuator (23) anlässlich einer auf die Komponente (22) einwirkenden dynamischen Beschleunigung anzusteuern. Daneben betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Verringerung von aus dynamischen Beschleunigungen herrührenden Deformationen von Komponenten einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie.
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
allemand (
DE
)
Langue de dépôt :
allemand (
DE
)