Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018062308) DISPOSITIF DE TOMODENSITOMÉTRIE, PROCÉDÉ DE MESURE DE LA DENSITÉ DES ÉLECTRONS ET NOMBRE ATOMIQUE EFFECTIF, PROCÉDÉ DE BALAYAGE PAR TOMODENSITOMÉTRIE, ET PROCÉDÉ D’INSPECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/062308 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/035026
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.09.2017
CIB :
A61B 6/03 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01) ,G01N 23/087 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6
Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
02
Dispositifs pour établir un diagnostic dans des plans différents successifs; Diagnostic stéréoscopique utilisant des radiations
03
Tomographes associés à un ordinateur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
04
et formant une image
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
06
et mesurant l'absorption
08
Utilisation des moyens de détection électriques
083
le rayonnement consistant en rayons X
087
utilisant des rayons X polyénergétiques
Déposants :
国立大学法人群馬大学 NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION GUNMA UNIVERSITY [JP/JP]; 群馬県前橋市荒牧町四丁目2番地 2, Aramaki-machi 4-chome, Maebashi-shi, Gunma 3718510, JP
Inventeurs :
櫻井 浩 SAKURAI Hiroshi; JP
取越 正己 TORIKOSHI Masami; JP
砂口 尚輝 SUNAGUCHI Naoki; JP
金井 達明 KANAI Tatsuaki; JP
長尾 明恵 NAGAO Akie; JP
イ ソン ヒョン  LEE Sung Hyun; JP
Mandataire :
特許業務法人信友国際特許事務所 SHIN-YU INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都渋谷区笹塚2-1-6 笹塚センタービル Sasazuka Center Bldg., 2-1-6, Sasazuka, Shibuya-ku, Tokyo 1510073, JP
Données relatives à la priorité :
2016-19021828.09.2016JP
Titre (EN) X-RAY CT DEVICE, METHOD FOR MEASURING ELECTRON DENSITY AND EFFECTIVE ATOMIC NUMBER, CT SCANNING METHOD, AND INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TOMODENSITOMÉTRIE, PROCÉDÉ DE MESURE DE LA DENSITÉ DES ÉLECTRONS ET NOMBRE ATOMIQUE EFFECTIF, PROCÉDÉ DE BALAYAGE PAR TOMODENSITOMÉTRIE, ET PROCÉDÉ D’INSPECTION
(JA) X線CT装置、電子密度及び実効原子番号の測定方法、CT検査方法、検査方法
Abrégé :
(EN) An X-ray CT device is provided with a processing unit for processing data obtained by detecting X-rays radiated from an X-ray light source of a light source unit and transmitted through a measurement object, the processing unit finding an absorption coefficient µ(k) for each energy region k of each calibration tool from data obtained by measuring two or more types of calibration tools in a plurality of energy regions, calculates calibration coefficients F(k), G(k) for the energy regions k on the basis of equation (3) from the absorption coefficient found for each calibration tool, finds an absorption coefficient µ(k) for each energy region k of a measurement object from data obtained by measuring a measurement object in each of a plurality of energy regions, and calculates the electron density ρe and the effective atomic number Z of the measurement object on the basis of equation (4) from the calibration coefficients F(k), G(k) for the energy regions k and the absorption coefficients µ(k) for the energy regions k of the measurement object.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de tomodensitométrie muni d’une unité de traitement afin de traiter les données obtenues par la détection des rayons (X) rayonnés par une source de lumière de rayons (X) d’une unité de source de lumière et transmis à travers un objet à mesurer, l’unité de traitement identifiant un coefficient d’absorption µ(k) pour chaque région d’énergie (k) de chaque outil d’étalonnage à partir des données obtenues par la mesure de deux types ou plus d’outils d’étalonnage dans une pluralité de régions d’énergie, calcule les coefficients d’étalonnage F(k), G(k) pour les régions d’énergie (k) sur la base de l’équation (3) à partir du coefficient d’absorption identifié pour chaque outil d’étalonnage, identifie un coefficient d’absorption µ(k) pour chaque région d’énergie (k) d’un objet à mesurer à partir des données obtenues par mesure d’un objet à mesurer dans chacune d’une pluralité de régions d’énergie, et calcule la densité des électrons ρe et le nombre atomique effectif (Z) de l’objet à mesurer sur la base de l’équation (4) à partir des coefficients d’étalonnage F(k), G(k) pour les régions d’énergie (k) et les coefficients d’absorption µ(k) pour les régions d’énergie (k) de l’objet à mesurer.
(JA) 光源部のX線光源から照射されて被測定物を透過したX線を検出したデータを処理する処理部を備え、処理部は、2種類以上の校正用治具を複数のエネルギー領域でそれぞれ測定したデータから各校正用治具の各エネルギー領域kにおける吸収係数μ(k)を求め、求めた各校正用治具の吸収係数から、下記数式(3)に基づいて各エネルギー領域kにおける校正係数F(k),G(k)を算出し、測定対象を複数のエネルギー領域でそれぞれ測定したデータから、測定対象の各エネルギー領域kにおける吸収係数μ(k)を求め、測定対象の各エネルギー領域kにおける吸収係数μ(k)と各エネルギー領域kにおける校正係数F(k),G(k)から、下記数式(4)に基づいて測定対象の電子密度ρ及び実効原子番号Zを算出するX線CT装置を構成する。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)