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1. (WO2018061239) PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE LA QUALITÉ OU DES CONDITIONS DE FABRICATION DE CIMENT
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N° de publication : WO/2018/061239 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/003988
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 03.02.2017
CIB :
C04B 7/36 (2006.01) ,G06N 3/02 (2006.01)
Déposants : TAIHEIYO CEMENT CORPORATION[JP/JP]; 3-5, Daiba 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1358578, JP
Inventeurs : SUEMATSU Ryoichi; JP
KUROKAWA Daisuke; JP
HIRAO Hiroshi; JP
Mandataire : HIRATA Naoyuki; JP
Données relatives à la priorité :
2016-19248430.09.2016JP
Titre (EN) PREDICTION METHOD FOR CEMENT QUALITY OR MANUFACTURING CONDITIONS
(FR) PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE LA QUALITÉ OU DES CONDITIONS DE FABRICATION DE CIMENT
(JA) セメントの品質または製造条件の予測方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided is a method by which cement quality can be predicted in a short time and with a high degree of accuracy. In a prediction method for cement quality or manufacturing conditions: learning of a neural network having an input layer and an output layer is carried out, with a number of learning instances great enough for σM to be greater than σL, such learning carried out using the neural network, learning data, and monitoring data; then, neural network learning is repeated while reducing the number of learning instances, until σL>σM is satisfied; in addition, if an analysis degree determination value does not satisfy a first set value but the analysis degree determination value satisfies a predetermined second set value, and if an actual measured value of monitoring data is within a numerical range formed by a certain limiting condition, the actual measured value of the monitoring data is input to the input layer of the neural network, and an estimated value of evaluation data is output from the output layer.
(FR) L'invention concerne un procédé grâce auquel la qualité du ciment peut être prédite en un court laps de temps et avec un degré élevé de précision. Selon un procédé de prédiction de la qualité ou des conditions de fabrication du ciment : l'apprentissage d'un réseau neuronal ayant une couche d'entrée et une couche de sortie est réalisé, avec un nombre de cas d'apprentissage suffisamment élevé pour que σM soit supérieur à σL, un tel apprentissage étant réalisé à l'aide du réseau neuronal, de données d'apprentissage et de données de surveillance ; ensuite, l'apprentissage du réseau neuronal est répété tout en réduisant le nombre de cas d'apprentissage, jusqu'à ce que σL >σM soit satisfait ; en outre, si une valeur de détermination de degré d'analyse ne satisfait pas une première valeur de consigne mais que la valeur de détermination de degré d'analyse satisfait une seconde valeur de consigne prédéterminée, et si une valeur mesurée réelle de données de surveillance se trouve à l'intérieur d'une plage numérique formée par une certaine condition limitante, la valeur mesurée réelle des données de surveillance est entrée dans la couche d'entrée du réseau neuronal, et une valeur estimée de données d'évaluation est émise à partir de la couche de sortie.
(JA) 短時間でかつ高い精度でセメントの品質を予測することができる方法を提供する。 入力層及び出力層を有するニューラルネットワーク、学習データ及びモニターデータを用いて、σ<σとなるような、十分に大きい学習回数でニューラルネットワークの学習を行った後に、学習回数を減らしながらニューラルネットワークの学習をσ≧σとなるまで繰り返し、かつ、解析度判定値が第一の設定値を満たさない場合であって、解析度判定値が予め定めた第二の設定値を満たす場合、監視データの実測値が特定の限定条件によって形成される数値範囲内に属する場合であれば、ニューラルネットワークの入力層に当該の監視データの実測値を入力し、出力層から評価データの推測値を出力するセメントの品質または製造条件の予測方法。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)